IECTS 63342-2022 晶体硅光伏组件光照和高温诱导降解（LETID）试验检测方法 标准立项发展报告.docxVIP

晶体硅光伏组件光照和高温诱导降解（LETID）试验检测方法标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:C-SiPhotovoltaic(PV)Modules—LightandElevatedTemperatureInducedDegradation(LETID)Test—Detection

摘要

随着全球光伏装机容量的持续攀升，晶体硅光伏组件的长期可靠性问题日益受到行业关注。光照和高温诱导降解（LightandElevatedTemperatureInducedDegradation，简称LETID）是近年来被广泛研究的一种电池衰减机制，可在组件运行初期造成显著的功率损失，严重影响光伏系统的发电效益和投资回报。国际电工委员会（IEC）于2022年7月正式发布IEC/TS63342-2022技术规范，为晶体硅光伏组件LETID效应的检测提供了标准化的试验方法。本报告系统梳理了该标准的立项背景、技术框架、核心内容及实施意义，分析了LETID检测技术从实验室研究走向标准化应用的演进路径。该标准规定了在受控光照和高温条件下对组件进行加速老化试验的程序，并通过试验前后电性能参数的对比来量化LETID衰减程度，为光伏制造商、检测认证机构和电站业主提供了统一的技术评价依据。本报告的结论表明，IEC/TS63