IEC 60749-5：2017 半导体器件机械和气候试验方法第5部分稳态温度湿度偏置寿命试验标准立项发展报告.docx

半导体器件机械和气候试验方法第5部分：稳态温度湿度偏置寿命试验标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:SemiconductorDevices–MechanicalandClimaticTestMethods–Part5:Steady-StateTemperatureHumidityBiasLifeTest

摘要

随着半导体器件在汽车电子、工业控制、通信基础设施及消费电子等领域的广泛应用，器件在高温高湿环境下的长期可靠性问题日益受到行业关注。稳态温度湿度偏置寿命试验（Steady-StateTemperatu