IEC 60747-5-13:2021 半导体器件第5-13部分光电器件LED封装的硫化氢腐蚀试验标准立项发展报告.docxVIP

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  • 2026-11-03 发布于山东
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IEC 60747-5-13:2021 半导体器件第5-13部分光电器件LED封装的硫化氢腐蚀试验标准立项发展报告.docx

半导体器件第5-13部分:光电器件LED封装的硫化氢腐蚀试验标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:SemiconductorDevices–Part5-13:OptoelectronicDevices–HydrogenSulphideCorrosionTestforLEDPackages

摘要

随着LED技术在照明、显示、汽车电子及户外工程等领域的广泛应用,LED封装在含硫环境中的可靠性问题日益凸显。硫化氢(H?S)腐蚀会导致LED封装中银反射层硫化发黑、光通量急剧衰减乃至失效,已成为制约LED产品长期可靠运行的关键因素之一。国际电工委员会(IEC)于2021年6月正式发布IEC60747-5-13:2021《半导体器件第5-13部分:光电器件LED封装的硫化氢腐蚀试验》,为LED封装抗硫化能力评价提供了国际统一的试验方法。本报告系统梳理了该标准的立项背景、编制过程、主要技术内容及适用范围,分析了标准在半导体光电器件标准化体系中的定位与作用,并结合我国LED产业发展现状探讨了该标准的应用价值与实施建议。报告认为,IEC60747-5-13:2021填补了LED封装硫化氢腐蚀试验国际标准的空白,对规范产品质量评价、促进国际贸易互认具有重要意义,建议国内相关企事业单位积极对标采用,完善LED可靠

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