研究报告
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碳化硅外延片下游功率器件需求研究
一、研究背景与意义
1.1.碳化硅外延片技术发展现状
(1)碳化硅外延片作为新一代宽禁带半导体材料,近年来在全球范围内得到了迅速发展。其优异的电子特性,如高击穿电场、高热导率以及低导通电阻,使其在高温、高频和高功率应用领域具有不可替代的优势。从材料制备工艺来看,目前主流的碳化硅外延技术包括液相外延(LPE)、化学气相沉积(CVD)和金属有机化学气相沉积(MOCVD)等。其中,CVD和MOCVD技术因其良好的可控性和可扩展性,在工业生产中得到了广泛应用。
(2)在碳化硅外延片的质量和性能方面,国内外研究机构和企业
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