IEC 62951-2：2019 半导体器件.柔性和可伸展半导体器件.第2部分柔性器件的电子迁移率、亚阈值摆幅和阈值电压的评估方法标准立项发展报告.docxVIP

半导体器件柔性和可伸展半导体器件第2部分：柔性器件的电子迁移率、亚阈值摆幅和阈值电压的评估方法标准立项发展报告

EnglishTitle:StandardizationDevelopmentReport:SemiconductorDevices–FlexibleandStretchableSemiconductorDevices–Part2:EvaluationMethodforElectronMobility,Sub-thresholdSwingandThresholdVoltageofFlexibleDevices

摘要

随着柔性电子与可伸展半导体器件在可穿戴设备、柔性显示、生物医学传感及物联网等领域的快速产业化，建立统一、可重复的电学性能评估方法成为行业亟需。国际电工委员会（IEC）于2019年4月正式发布IEC62951-2:2019《半导体器件柔性和可伸展半导体器件第2部分：柔性器件的电子迁移率、亚阈值摆幅和阈值电压的评估方法》，为柔性晶体管等核心器件的关键电学参数提供了国际公认的测试与评价框架。本报告系统梳理了该标准的立项背景、技术内容、编制逻辑与应用价值，重点分析了电子迁移率、亚阈值摆幅和阈值电压三项核心参数在柔性条件下的测量原理、测试条件规范及数据报告要求。报告指出，该标准填补了柔性半导体器件电学性