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超大规模集成电路测试中扫描链优化与时间控制研究.pdfVIP

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  • 约 43页
  • 2026-11-06 发布于北京
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超大规模集成电路测试中扫描链优化与时间控制研究.pdf

    DFT-Part1

    •Introduction

    •InternalScan

    •ScanDesignFlow

    •IssuesandSolutions

    Longtesttime

    Largetestdata

    Toomuchoverhead

    HowtoTestDFT

    •Conclusion

    1VLSITest11.8©NationalUniversity

    SSF操作（回顾）

    load捕获卸载/装载

    主输入(pat.

    #主输入(pat.

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    应用1)2)

    扫描输入

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