IEC 60747-5-9：2019 半导体器件第5-9部分光电子器件发光二极管基于温度依赖性电致发光的内部量子效率试验方法标准立项发展报告.docxVIP

半导体器件第5-9部分：光电子器件发光二极管基于温度依赖性电致发光的内部量子效率试验方法标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:SemiconductorDevices–Part5-9:OptoelectronicDevices–LightEmittingDiodes–TestMethodoftheInternalQuantumEfficiencyBasedontheTemperature-DependentElectroluminescence

摘要

发光二极管（LED）作为第三代半导体光电子器件的核心代表，其内部量子效率（IQE）是衡量材料质量与器件性能的关键参数。随着LED技术在通用照明、新型显示、光通信及紫外杀菌等领域的广泛应用，建立统一、准确、可复现的IQE测试方法标准成为行业迫切需求。IEC60747-5-9:2019《半导体器件第5-9部分：光电子器件发光二极管基于温度依赖性电致发光的内部量子效率试验方法》由国际电工委员会（IEC）于2019年12月正式发布，为LED内部量子效率的测试提供了国际通用的标准化方法。本报告系统梳理了该标准的立项背景、技术内容、编制依据及应用价值，详细介绍了温度依赖性电致发光（TDEL）方法的测试原理与操作流程，分析了该标准对半导体光电子