IEC TS 62804-1-1：2020 光伏组件.潜在诱发退化检测的试验方法.第1-1部分晶体硅.分层标准立项发展报告.docxVIP

IECTS62804-1-1:2020光伏组件潜在诱发退化检测试验方法晶体硅分层标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:Photovoltaic(PV)Modules–TestMethodsfortheDetectionofPotential-InducedDegradation–Part1-1:CrystallineSilicon–Delamination

摘要

随着全球光伏装机容量的持续攀升，光伏组件在长期户外运行中的可靠性问题日益受到行业关注。电位诱发退化（Potential-InducedDegradation,PID）是影响晶体硅光伏组件功率输出与安全性能的关键失效模式之一，其中分层现象作为PID的典型表现形式，直接影响组件的绝缘性能与机械完整性。国际电工委员会（IEC）于2020年1月正式发布IECTS62804-1-1:2020《光伏组件潜在诱发退化检测的试验方法第1-1部分：晶体硅分层》，为晶体硅光伏组件PID分层现象的检测与评价提供了统一的技术规范。本报告系统梳理了该技术规范的立项背景、编制历程、技术框架与核心内容，分析了其在光伏组件质量评价体系中的应用价值，并结合当前光伏技术发展趋势对标准的后续修订方向进行了展望。报告认为，该规范填补了晶体硅组件PID分层