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- 2026-11-06 发布于福建
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半导体器件的机械标准化第6-13部分:密节距焊球阵列封装和密节距焊盘阵列封装顶部开放式插座的设计指南
目录
CONTENTS
02.
04.
05.
01.
03.
06.
标准概述与适用范围
顶部开放式设计原则
术语定义与缩略语
材料选择与可靠性指标
机械结构与尺寸要求
测试方法与质量检验
01
标准概述与适用范围
标准制定背景与目的
完善标准体系
作为半导体器件机械标准化体系的第6-13部分,本标准的修订填补了密节距封装顶部开放式插座设计规范的空白,为相关产品的研发与质量评估提供权威依据。
提升互换性与可靠性
本标准旨在为顶部开放式插座提供系统化的设计规范,确保不同厂商生产的插座在尺寸、公差和接口上具备良好互换性,从而提升器件组装与测试的可靠性。
技术演进需求
随着半导体封装技术向微型化、高密度化发展,密节距焊球阵列封装(FBGA)和密节距焊盘阵列封装(FLGA)应用日益广泛,亟需制定统一的机械标准化设计指南以规范行业发展。
适用封装类型界定
FBGA封装适用性
明确本标准适用于密节距焊球阵列封装(FBGA),详细规定了该封装类型在顶部开放式插座中的机械接口参数,确保焊球与插座触点的精准对位与可靠接触。
顶部开放式结构特征
规范了顶部开放式插座的结构边界,明确了插座本体、导向件及锁紧机构在适应FBGA和FLGA封装时的尺寸约束与公差分配,保障器件取放的顺畅性。
FLGA封装
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