IEC 61967-1：2018 集成电路电磁辐射测量第1部分一般条件和定义标准立项发展报告.docx

集成电路电磁辐射测量第1部分：一般条件和定义标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:IntegratedCircuits-MeasurementofElectromagneticEmissions-Part1:GeneralConditionsandDefinitions

摘要

随着集成电路向高集成度、高时钟频率和低功耗方向持续演进，芯片级电磁辐射问题日益突出，成为影响电子系统电磁兼容性的关键因素。IEC61967-1:2018《集成电路电磁辐射测量第1部分：一般条件和定义》作为IEC61967系列标准的总纲