IEC 62321-5：2013 电工产品中某些物质的测定 - 第5部分Aas Afs Icp-Oes和Icp-Ms中的聚合物和电子元件中的镉 铅和铬以及金属中的镉和铅标准立项发展报告.docxVIP

电工产品中某些物质的测定第5部分：AAS、AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物和电子元件中的镉、铅和铬以及金属中的镉和铅标准立项发展报告

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StandardizationDevelopmentReport:Determinationofcertainsubstancesinelectrotechnicalproducts—Part5:Cadmium,leadandchromiuminpolymersandelectronicsandcadmiumandleadinmetalsbyAAS,AFS,ICP-OESandICP-MS

摘要

随着欧盟RoHS指令及全球电器电子产品有害物质限制政策的持续推进，电工产品中镉、铅、铬等限用物质的准确测定成为合规评价、市场监管和国际贸易的技术基础。IEC62321-5:2013由国际电工委员会发布，规定了采用原子吸收光谱法（AAS）、原子荧光光谱法（AFS）、电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）和电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）测定聚合物和电子元件中镉、铅、铬以及金属中镉、铅的方法体系。该标准面向均质材料层面，涵盖样品制备、消解、仪器分析、校准、质量控制及结果表达等关键环节，为电工产品有害物质检测提供了国际协调的技术依据。报告梳理