IEC 63185-2020 低损耗介质基片复介电常数的测量平衡型圆盘谐振器法 标准立项发展报告.docxVIP

低损耗介质基片复介电常数的测量平衡型圆盘谐振器法标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:MeasurementoftheComplexPermittivityforLow-LossDielectricSubstrates—Balanced-TypeCircularDiskResonatorMethod

摘要

随着微波毫米波通信、雷达系统及高速数字电路向高频化、集成化方向快速发展，低损耗介质基片作为关键基础材料，其复介电常数的精确表征对电路设计与仿真至关重要。国际电工委员会（IEC）于2020年12月8日正式发布IEC63185:2020《低损耗介质基片复介电常数的测量平衡型圆盘谐振器法》，该标准规定了采用平衡型圆盘谐振器法测量低损耗介质基片复介电常数的测试原理、装置要求、校准方法与数据处理流程。本报告系统梳理了该标准的立项背景、技术内容、行业影响及应用价值，分析了国内外介电常数测量标准体系的现状与发展趋势，并结合我国电子信息材料产业需求，提出了标准实施与后续研究的建议。该标准的发布填补了低损耗介质基片复介电常数精确测量领域国际标准的空白，为5G/6G通信、卫星通信及微波集成电路等领域提供了统一的测试依据，对推动电子材料产业标准化、提升产品质量一致性具有重要意义。

关键词：低损耗介质基片；复介电常数；平