IEC TS 62804-2：2022 光伏（PV）组件.检测潜在诱发退化的试验方法.第2部分薄膜标准立项发展报告.docxVIP

光伏（PV）组件检测潜在诱发退化的试验方法第2部分：薄膜标准立项发展报告

EnglishTitle

StandardizationDevelopmentReport:Photovoltaic(PV)modules-Testmethodsforthedetectionofpotential-induceddegradation-Part2:Thin-film

摘要

潜在诱发退化（Potential-InducedDegradation，PID）是影响光伏组件长期可靠性和发电性能的重要失效模式之一。随着薄膜光伏技术在建筑光伏、分布式电站及特殊应用场景中的持续推广，建立面向薄膜组件的PID检测与评价方法，对提升产品可靠性、规范市场秩序和促进国际贸易具有重要意义。IECTS62804-2:2022《光伏（PV）组件检测潜在诱发退化的试验方法第2部分：薄膜》由国际电工委员会（IEC）于2022年3月29日发布，现行有效，属于太阳能工程领域的重要技术规范。该标准面向薄膜光伏组件，规定了潜在诱发退化检测的试验原理、试验条件、样品要求、测试程序及结果评价等内容，为薄膜组件PID敏感性评估提供了国际统一的技术依据。本报告系统梳理该标准的立项背景、标准概况、技术内容、与相关标准的关系、行业应用价值及实施建议，并结合光伏产业可靠性和标准化发展趋势进行