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第四节 控制图 控制图——过程控制的工具。用来表示一个过程特性的图象。 它有两个基本用途：①用来判断过程是否一直受统计控制。 ②用来帮助过程保持受控状态。 控制图的构成： 特性值 UCL：上控制线 CL：中心线 LCL下控制线 取样时间 收集： 收集数据并画在图上。 控制：根据过程数据计算试验控制线 识别变差特殊原因并采取措施。 分析及改进：确定普通变差的大小，并采取减少它的措施。 重复三个阶段，从而不断改进过程。 控制图的益处： 供正在进行过程控制的操作者使用。 有助于过程在质量上和成本上能持续地、可预见的保持下去。 使过程达到： ——更高的质量。 ——更低的单件成本。 ——更高的有效能力。 为讨论过程的性能提供共同的语言。 区分变差的特殊原因和普通原因，作为采取局部措施或对系统采取措施的指南。 第二章 计量型数据控制图 第一 节 均值和极差图 参见“均值和极差控制图” 收集数据 子组大小：一般为4-5件（连续生产的产品的组合）。各子组样本应一样。 选择原则：一子组各样本间出现的变差的机会小。子组内变差主要由普通原因造成。 子组频率：应在适当时间收集足够的子组，能反映潜在的变化。过程处于稳定，频率可减少。（每班两次、每小时一次或其他频率）。 子组组数：≧25个。总单值≧100个。 控制图及记录原始数据： X图绘在R图的上方。下面再接一个数据栏。 X和R值为纵坐标，时间为横坐标。 数据栏应包括：每个读数空间、读数、和、均值、极差以及日期/时间或其他识别子组的代码的空间等。 计算均值（X）和极差（R）： X=( X1+X2+…+Xn)/n R=XMAX﹣XMIN X1,X2,…Xn——测量值。 n——子组容量。 控制图刻度； 对X图：坐标刻度最大值-最小值≧2（Xmax –Xmin） 对R图：坐标刻度最大值≧2Rmax 计算控制限： 平均极差（R）及过程平均值（X） R=（R1+R+2…+RK）/K X=（X+1X2+…+XK）/K K——子组的数量。 计算控制限 UCLR=D4R UCLX =X+A2R LCLR =D3R LCLX=X﹣A2R D4， D3，A2 为常数。查表得。 绘制控制限的控制线： R和 X绘成水平实线。 各控制限（UCLR ，LCLR，UCLX，LCLX）绘成水平虚线。 极差图（R）分析： 点：未超出控制限——过程稳定、受控。只有普通变差。 超出控制限——过程不稳定、不受控。存在特殊变差。 超出极差上控制限原因： a． 零件间的变化性或分布的宽度已经增大（即变坏）。这种情况可发生在某点，也可发生在整个趋势的一部分。 b.测量系统变化（如：不同检验员或量具） c． 测量系统无适当的分辨力。 d.控制限计算错误或描点错误。 链（线） 连续7点位于平均值的一侧。(高于平均极差值：输出值的分布宽度增加，原因无规律，如：设备不正常和原材料材质不均等。低于平均极差值：输出值的分布宽度减少。好的状态应研究推广。) 连续7点上升或下降。(上升：原因无规律，如：设备不正常和原材料材质不均等。下降：好的状态应研究推广。) 测量系统改变（新检验员或新量具） 明显的非随机布局图形： 一般2/3的点应落在控制限的中间1/3区域内，其他1/3的点应落在其外2/3区域内。（正常情况） 原因分析：（只要未出现超出控制限的点，对极差图中出现非随机布局图形，注意不要过分解释数据。） 如60%的点应落在控制限的中间1/3区域内，应调查： ·数据是否已被编辑； ·过程或取样方法被分层； ·控制限计算错误或描点错误。 如40%以下的点应落在控制限的中间1/3区域内，应调查： ·是否有两个或两个以上过程流的测量值（例如：输入材料批次混淆。） ·控制限或描点计算错误或描错。 识别并标识特殊原因： 对于每个数据进行标识，做一个过程操作分析，确定主要原因。并对改进过程的纠正措施进行解释，防止再发生。（并非所有特殊原因都是不利的！） 重新计算控制极限： 失控的原因已被识别和消除，可将已识别的数据点去掉，重新计算极差控制限。同时将X图中对应点去掉。 均值图（X）分析： 点：超出控制限的点——存在特殊变差。 ·过程已改变；是一种趋势的一部分。 ·某一独立事件（如：误