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实验一、8位算术逻辑运算实验
【实验目的及要求】 掌握简单运算器的数据传送组成原理。
验证算术逻辑运算功能发生器74LS181的组合功能。 实验内容:实验时用8芯排线和内部数据总线BUSD0-D7插座BUS1-6中的任一个相连,内部数据总线通过LZD0-LZD7显示灯显示;运算器的两个数据输入端分别由二个锁存器74LS273(U29、U30)锁存,两个锁存器的输入并联后连至插座ALUBUS,实验时通过8芯排线连至外部数据总线EXD0-D7插座EXJ1-EXJ3中的任一个;参与运算的数据来自于8位数据开关KD0-KD7,并经过一三态门74LS245(U51)直接连至外部数据总线EXD0-EXD7,通过数据开关输入的数据由LD0-LD7显示。
图中算术逻辑运算功能发生器74LS181(U31、U32)的功能控制信号S3、S2、S1、S0、CN、M并行相连后连至SJ2插座,实验时通过6芯排线连至6位功能开关插座UJ2,以手动方式用二进制开关S3、S2、S1、S0、CN、M来模拟74LS181(U31、U32)的功能控制信号S3、S2、S1、S0、CN、M;其它电平控制信号LDAR1、LDAR2、ALUB、SWB以手动方式用二进制开关LDDR1、LDDR2、ALUB、SWB来模拟,这几个信号有自动和手动两种方式产生,通过跳线器切换,其中ALUB、SWB位低电平有效,LDDR1、LDDR2位高电平有效。
另外有信号T4位脉冲信号,在手动方式下进行实验时,只需要将跳线器J23上T4与手动脉冲发生开关的输出端SD相连,按手动脉冲开关,即可获得实验所需的单脉冲。 【实验方案设计】 1实验接线
实验用到4个主要模块:(1)低8位运算器模块,(2)数据输入并显示模块(3)数据总线显示模块(4)功能开关模块(借用微地址输入模块)。
根据实验原理详细接线如下:
1 ALBUS连EXJ3;
2 ALUO1连BUS1;
3 SJ2连UJ2;
4 跳线器J23上T4连SD;
5 LDDR1、LDDR2、ALUB、SWB四个跳线器拨在左边(手动方式);
6 AR跳线器拨在左边,同时开关AR拨在’1’电平。 【实验过程】(实验步骤、记录、数据、分析) 实验步骤
1 连接线路,仔细查线无误后,接通电源。
2 用二进制数码开关KD0—KD7向DR1和DR2寄存器置数。方法:关闭ALU输出三态门(ALUB=1),开启输入三态门(SWB=0),输入脉冲T4按手动脉冲发生按钮产生。设置数据开关具体操作步骤图示如下: ALUB=1 LDDR1=1
KD0-D7 SWB=0 LDDR2=0
T4=方波
ALUB=1
KD0-D7 SWB=0
LDDR1=0
LDDR2=1
T4=方波
检验DR1和DR2中存入的数据是否正确,利用算术逻辑运算功能发生器74LS181的逻辑功能,即M=1。
验证74LS181的算术运算和逻辑运算功能。 【结论】(结果) 输出的结果与理论值一致。
(1)SW-B=0时有效,SW-B=1时无效,因其是低电平有效,ALU-B=0时有效,ALU-B=1时无效,因其是低电平有效 S3,S2,S1,S0高电平有效。
(2)做算术运算和逻辑运算时应设的控制端有:ALU-B、SW-B、S3 S2 S1、S0、M、Cn、DR1、DR2。
(3)输入三态门控制端SW-B和输出三态门控制端ALU-B不能同时为“0”状态,否则寄存器中数据无法准确输出。
(4)S3,S2,S1,S0是运算选择控制端;M是算术逻辑运算选择;Cn是算术运算的进位控制端;ALU-B是输出三态门控制端;SW-B是输入三态门的控制端。
(5) DR1、DR2置数完成后,关闭控制端LDDR1、LDDR2以确保输入数据不丢失。
(6) 若把SW-B置为“0”,把ALU-B置为“1”,则数据总线的灯会还原为原来的数据。(7)A+B是逻辑运算,控制信号状态000101;A加B是算术运算,控
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