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Measurement Systems Analysis （ M S A ）;Measurement Systems Analysis （ M S A ）;We don’t know what we don’t know. 我们不了解我们不知道的东西，; 测量系统分析（MSA）的概念： 指 Measurement Systems Analysis （测量系统分析）的英文简称。 M ( Measurement ) 测量 S ( Systems ) 系统 A ( Analysis ) 分析;ISO/TS16949:2002与MSA;实施要点说明 对控制计划中列入的测量系统要进行测量系统分析。 测量分析方法及接受准则应与测量系统分析参考手册一致。 经顾客批准，可以采用其它方法及接受准则。 PPAP手册中规定：对新的或改进的量具、测量和试验设备应参考MSA手册进行变差研究。 APQP手册，MSA为“产品/过程确认”阶段的输出之一。 SPC手册指出MSA是控制图必需的准备工作。;ISO/TS16949:2002与MSA;第 页，共 页;优胜者方法;MSA 与 APQP/CP、FMEA、PPAP和SPC的关系;什么是测量系统;测量系统范例; 测量系统分析（MSA） — MSA用于分析测量系统对测量值的影响。 确定新购或经维修、校准合格后的测量设备在生产过程中使用 时能提供客观、正确的分析/评价数据，对各种测量和试验设备系统测量结果的变差进行适当的可靠性统计研究，以了解测量系统是否满足产品特性的测量需求和评价测量系统的适用性，确保产品质量满足和符合顾 客的要求和需求。 — 强调仪器和人的影响 我们对测量系统作试验，以确定系统的统计特性值与可接 受的标准作比较;什么是数据的质量; 如何评定数据质量 — 测量结果与“真”值的差越小越好。 — 数据质量是用多次测量的统计结果进行评定。 计量型数据的质量 — 均值与真值（基准值）之差。 — 方差大小。 计数型数据的质量 — 对产品特性产生错误分级的概率。;数据分析和使用;测量系统评定的两个阶段;评价测量系统的基本问题;分辨力;测量系统的分辨力;分辨力;分辨力不足;分辨力的决定原则;测量系统的分辨率; 盲测法 在实际测量环境下，在操作者事先不知正在对该测量系统进行评定的条件下，获得测量结果。 向传统观念挑战 长期存在的把测量误差只作为公差范围百分率来报告的传统，是不能面临未来持续改进的市场挑战。;测量系统的变差;测量系统特性及变差类型和定义;测量值并不总是精确的;从哪里开始;理想的测量系统;测量系统数据;变差数据表达;测量系统的变差与制造过程变差;测量系统的变差源 ■ 与所有过程相似，测量系统受随机和系统变差源影响。这些变差源由普 通原因和特殊原因造成。为了控制测量系统变差： 1)、识别潜在的变差源； 2)、排除（可能时）或监控这些变差源。 ■ 尽管特定的原因将依据条件，但一些典型的变差源是可以识别的。有多 种不同的方法可以对这些变差源表述和分类，如因果图、故障树图等， 但测量系统分析（MSA,第三版）将关注的是测量系统的主要要素。 ;本图显示了一张潜在的变差源的因果图。由于实际的变差来源影响一个特定的测量系统，它对这个系统来说是唯一的，本图所示可作为研究测量系统变差源的一个思考的起点。 ;环境如何影响测量结果;测量仪器如何影响测量结果;材料、人员如何影响测量结果;统计稳定性;1、处于统计控制状态，即只存在变差的普通原因。 2、测量系统的变异性（Variability）小于过程变异性。 3、测量系统的变异性小于技术规范界限。 4、测量增量（increments）小于过程变异性和技术规范宽度 的1/10。 5、当被测项目变化时，测量系统统计特性的最大变差小于 过程变差和规范宽度较小者。;MSA的应用;优胜者方法;测量系统分析;;测量系统分析（MSA）流程图;1、偏 倚 分 析 方 法;1.1 偏倚的概念和定义;■ 偏倚是测量系统的系统误差的测量。 它引起由各种已知的或未知的变差源的综合影响组成的总误差，它引起总误差的原因是在重复采用同样的测量过程进行 测量时，总是趋向于使所有的测量结果发生持续及可预测的偏移。 ; ■ 造成过分偏倚的可能原因是： ● 仪器需要校准； ● 仪器、设备或夹紧装置的磨损； ● 磨损或损坏的基准，基准出现误差；