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PON综合测试仪表：JDSU MTS-4000 被卡在配对连接器之间的微粒阻碍了光的传输，导致回波反射，插入损耗，甚至是设备损坏 SM连接器纤芯上1μm的微粒就可导致信号质量的大大降低 * 熔接型PON与连接型PON测试的不同 当在PON网络中连接器数量比较少而被一些熔接点所取代时，则在这些位置上将没有测试接入点。 此时，可以使用带有功率测试功能的光纤识别器来对链路进行测试，灵活方便，可逐段测试，适用于验收测试阶段（功率读数）以及故障排除阶段（流量显示）。 ? 有些情况下，分路器输出可能会直接熔接至分布光纤 如何识别宏弯曲？ 宏弯曲是安装短距离及光纤数量大的网络时常见的故障现象。 如果我们需要有效、准确到识别出光纤链路中存在的任何宏弯曲，那么至少应选择两个波长（通常是1310/1550nm）的OTDR测试。 因为，由光纤弯曲产生的损耗随着测试波长的增加而增加。例如：如果一个弯曲在1310nm处具有0.2dB的损耗，那么它在1550nm处则具有0.5dB的损耗。此时我们就可以清楚地知道这是一个宏弯曲。 而其它点的损耗如连接器的损耗则不随波长显著变化。 1550nm 1310nm 一般来说在实际线路中，对于1×16的PON网络来说希望其线路上的全程损耗不大于22dB；对于1×32的PON网络来说其线路上的全程损耗应不大于27dB。 端口数 典型分路器损耗 4 7dB 8 11dB 16 14dB 32 17dB 2 4dB 由上表可知，除了分路器所带来的固有大损耗，我们希望线路上的其它损耗越小越好，包括了熔接点、冷接子及各类跳线所引入的线路损耗。 因此，我们需要用PON光功率计来测量某段线路的损耗是否符合既定要求。 可是，为什么必须要使用专门的PON光功率计呢？ 类型 典型损耗 WDM耦合器 1dB 熔接点 0.05dB 冷接子 0.05~0.1dB 跳线法兰 0.5dB PON光功率计测试解决方案 为什么要使用PON光功率计？ 上下行信号以相反方向沿同一根光纤传输 上行方向使用时分多址(TDMA)的接入方式将多个ONU的上行信息组织成一个时分复用(TDM)信息流传送至OLT TDMA接入是把传输带宽划分成一系列连续的时隙，预先分配或根据用户需要分配这些时隙给用户 在这种结构中1310nm上行接入必须采用突发模式，线路上的光信号即为突发光信号（持续时间可能仅200ns） 普通的标准光功率计只能正确测试连续的光信号（记录一个采样周期内的平均光功率） 对于PON测试的基本要求 1) 同时测量1310nm、1490nm和1550nm这三种波长的光功率 2) 实现光功率的在线测试 3) 能正确测试突发信号光功率 由此可见，PON系统测试用的光功率计应满足以下几点要求： F2H FHP3P01 PON光功率计 为了适应我国FTTx发展的需要，光维通信适时推出了新一代的PON光功率计——F2H FHP3P01。 该仪表主要基于FTTx测试的需要而设计，其携带方便、操作简单、测量精确，适用于FTTx系统的现场开通、验收和维护。 PON光功率计的在线测试 1310nm 1490nm 1490/1550nm 1310nm 2 ONT 1310nm 探测1 探测2 1550nm 探测3 1490/1550nm OLT FTTx同步波长光功率计： 由于1310nm上行波长是由1490nm波长激发的，其通过模式可以使功率计在OLT和ONU之间的同步通信过程中有效测试所有波长的光功率。 因为1310nm上行信号以数据包模式传送，光功率计可利用突发模式的分析方法来测试1310nm信号。 耦合器 WDM 提取一小部分信号作测试用 光维F2H系列PON测试仪表的应用 小区机房 FTTB+LAN FTTH FTTD 1490nm/1550nm 1310nm 集成了PON功率计和OTDR PON光功率计包含三个波长：1310nm、1490nm、1550nmOTDR包含有1310nm、1550nm、1625nm波长（含滤波），其动态范围分别为34/32/32dB其中1625nm波长是在线测试波长 JDSU MTS-4000 FTTx/PON测试平台 JDSU MTS-4000：PON测试——建设 WDM 光分路器 PON OLT Video AMP RP Video 中心局 传输线终端 传输线终端 PON网络的安装OTDR测试： 光纤建设的验收测试/光纤连接验证 ? 参考迹线和光纤链路预算估计 从OLT到光分路器的OTDR测试 (馈线光纤验证) 从光分路器到ONT的测试 (分线光纤的验证) 从ONT向上测试 (如果光分路器直接连接到终端)?P2P 分线光纤 馈线光纤 1490/1550