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维普资讯
第32卷第2期 数 学 进 展 Vo1.32,No.2
2003年4月 ADVANCES IN M ATHEM ATICS April,2003
On M athem aticalM odelling and Analysis
in Sem iconduc:toorrssaand SupeerrllaattttliCceess
PartII:Analysis
XIAO Ling , QIUYou-chun2, ZHANG Kai-jun3,4料
(1.AcademiaofMathematicsandSystem Sciences,CAS,Beijin9,100080,P.R.China;2.MIP,CNRS,
UMR 5640,UniversitdPaulSabatier,31062ToulouseCedex04,France; .Dept.ofMath.,NortheastNormal
Univ.,Changchun,Jilin,130024,P.R.China; .Institut rMathematik,UniversiffitWien,Strudlhofgasse ,
A一1090Wien,Austria)
A bstract: In this articlewe firstintroduce the relevant compensated compactness
framework on theEulerequationsforan isentropiccompresssiblefluid.Then somerecent
mathematicalresultsbased on the methods ofcompensated compactness to thehydrody—
namicmodelofrsemiconductors suchasglobalweaksolutionsand relaxationlimitsas wellas
quasineutral—relaxation limitsarereviewed.
K ey words: sem iconductorhydrodynam icmodel;compensated compactness;weak
solutions;aymptoticlim its
MR(1991)SubjectClassification:82D37;35Q35;35L65/CLCnumber:O175.29;
o175.21
Documentcode:A ArticleID:1000-0917(2003)02—0166-19
1 Introduction
In fact.themacroscopicsemiconductordevicemodellingaroseintheearlyfiftieswhenthe
Van Roosbrocck drift—diflusion equationsweresetforth and formulated[71j
. Immediatelythese
equationsbecamethemostpopularmodelforthesimulationofsemiconductordevicesduetoits
providingofamucheasierandcheaperapproach tothecomputationalproblemsinapplications
instead ofthem icroscopicmodel,e.g..thesemiconductorBoltzma
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