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实验11 单缝衍射 练习一 单缝衍射的光强分布和缝宽的测定 【实验目的】 1．观察单缝的夫琅和费衍射现象及其随单缝宽度变化的规律，加深对光的衍射理论的理解 2．学习光强分布的光电测量方法。 3．利用衍射花样测定单缝的宽度。 【仪器及用具】 光具座，He—Ne激光器，可调单狭缝，光电池，光点检流计，移测显微镜。 【实验原理】 图11—1 夫琅和费衍射是平行光的衍射，即要求光源及接收屏到衍射屏的距离都是无限远（或相当于无限远）。在实验中，它可借助两个透镜来实现。如图11—1所示，位于透镜的前焦面上的单色狭缝光源，经后变成平行光，垂直照射在狭缝上，通过衍射后在透镜的后焦面上，呈现出单缝的衍射花样，它是一组平行于狭缝的明暗相间的条纹。与光轴平行的衍射光束会聚于屏上处，是中央亮纹的中心，其光强设为，与光轴成角的衍射光束则会聚于处，可以证明，处的光强为，即 ， （11—1） 式中为狭缝宽度，为单色光的波长。由式（11—1）得到： 1．当（即）时，，衍射光强有最大值。此光强对应于屏上点，称为主极大。的大小决定于光源的亮度，并和缝宽的平方成正比。 2．当（），即时，，衍射光强有极小值，对应于屏上暗纹。由于值实际上上小，因此可近似地认为暗条纹所对应的衍射角为。显然，主极大两侧暗纹之间的角宽度，而其他相邻暗纹之间的角宽度，即中央亮纹的宽度为其他亮纹宽度的两倍。 图11—2 3．除中央主极大外，两相邻暗纹之间都有一个次极大。由（11—1）式，可以求得这些次极大的位置出现在，，， ，…处；其相对应光强依次为，，，，…。夫琅和费单缝衍射光强分布曲线如图11—2所示。 本实验使用He—Ne激光作光源，因为He—Ne激光束具有良好的方向性（远场发散角为1毫弧左右），光束细锐，能量集中，加之一盘衍射狭缝宽度很小，故准直透镜可省略不用；如果将观察屏放置在距离单缝较远处，即远大于，故聚焦透镜也可省略。实验中，使屏到单缝之间的距离为左右，单缝的宽度为。 【实验内容】 1．测量夫琅和费单缝衍射光强分布 图11—3 （1）按图11—3在光具座上依次放置激光管、单缝和光电池。光电池（带有进光小孔）装在一个横向测距的支架上（自制显微镜支架），可以沿水平主向（方向）移动，即相当于改变衍射角，并使单缝到光电池的距离为左右。 （2）开启激光电源，调节其工作电流在左右，使激光束垂直照射在单缝上，可先用白纸屏在光电池处观察衍射图样。调节狭缝成垂直状态，使衍射图样平行于方向展开，以保证光电池横向移动时，进光小孔不离开衍射花样。调节狭缝宽度和测距支架的位置，使光电池至少能完整地测量衍射花样的主极大和级次极大，并使主极大处光电流的大小为能使检流计偏转格（使用检流计档，其零点值调至标尺端点格处）。 （3）为使测量准确，应检查衍射花样的光强分布是否对称。方法是用光电池检查级次极大的光电流是否相等，同时粗测一下它们相对主极大的距离是否相等来判断。如果不相等，可进一步微调狭缝的横向位置和缝宽（注意：将缝宽控制在之间）等。 （4）测量光强分布（应在激光器点燃半小时后作测量，以保证光强的稳定）。旋转测微支架上的测微螺旋，使光电池的进光小孔从左到右（或从右到左）逐点扫描，每隔记录一次光电流值（光点偏转格数），并注意记录主极大、各级次极大和极小值（测量时，还应注意探测器的暗电流和周围杂散光所引起的光电流，应先测量这部分光电流值，以对测量数据作出修整）。 （5）作光强分布曲线。根据测量数据，在坐标纸上作出相对光电流（在光电池线性条件下即相对光强）与位置的关系曲线，即衍射光强分布曲线，并与理论结果进行比较。 2．测量单缝宽度 由上面衍射光强分布曲线求单缝宽度，并用移测显微镜直接测量，将两者结果进行比较。 3．调节可变单缝的宽度，观察衍射图样的变化。 实验完毕后，将各仪器的电源关断，光点检流计的倍率档转至短路状态。 4．注意事项 （1） 应用光电池记录光强时，光点检流 计应选用低内阻型。读数时，应注意扣除环境 杂散光产生本底电流的影响。若光电流测量值 范围过大时，用图13—7所示的电路可避免因 改变电流计的量程，影响电流计的内阻和测量 灵敏度，保证电流计低内阻不变。图中 与先串联，再和并联后接入光电池电路， 当满足关系式 时，光电池外负载电阻总值不变。式中为电流计量程的扩大倍数。 （2）在观察和讨论波片对偏振光的影响时，准确地确定起偏器的主截面与波片的夹角是很重要的。而实际使用的波片，光轴方向定位不够准确，为此应善于应用理论来指导实践，即根