タウ粒子崩壊.pptVIP

* * * * * * * * * * * * * タウ粒子崩壊τ－→ωπ－ντにおけるセカンドクラスカレントの探索 奈良女子大学大学院　人間文化研究科 物理科学専攻　高エネルギー物理学研究室 玉木智子 1.　Introduction 2.　実験装置（KEKB加速器、Belle測定器） 3.　事象選別 4.　セカンドクラスカレントの探索 5.　まとめ １．Introduction 　τ粒子 ?第３世代に属するレプトン ?最も重いレプトン（電子の質量の約3500倍） ?ハドロニック崩壊が可能 τ粒子の崩壊 【レプトニック崩壊】　　 　終状態　???　τ－→ e－ν e ν τ 、 τ－→ μ－ν μ ν τ 　　　　割合　???　35.1% 【ハドロニック崩壊】 　πやK中間子、ハドロン共鳴状態を含む崩壊 　終状態　???　 ベクター状態 　　　 （ JP = 1－ 、 π中間子を偶数個含む崩壊） 　　　　　　　　　　軸ベクター状態　　　（ JP = 1＋ 、 π中間子を奇数個含む崩壊） 　　　　　　　　　　擬スカラー状態　　　（ JP = 0－ 、 π中間子1個のみ含む崩壊）　　 　　　　　　　　　　ストレンジネス状態 （S = ±1 、K中間子を含む崩壊） 　　　　　　　　低いエネルギーのハドロン状態を調べる理想的な過程。 　→　弱い相互作用で、セカンドクラスカレント （次に説明）は観測されていない。 e ντ νe νμ μ τ セカンドクラスカレント →　弱い相互作用での崩壊は観測されている →　弱い相互作用での崩壊は観測されていない τ－→ωπ－ντ崩壊を用いて、弱い相互作用によるセカンドクラスカレントの探索を行う。 ?粒子のスピン　（J） ?パリティー　（P） ?アイソスピン空間におけるパリティー　（Gパリティー） 　　　　　　　　　　　　　　　　を組み合わせて粒子を分類したときにあらわれるカレント。 【ファーストクラスカレント】 PG（－1）J＝＋1 JPG＝（0＋＋、0－－、1＋－、1－＋） 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 【セカンドクラスカレント】 PG（－1）J＝－1 JPG＝（0＋－、0－＋、1＋＋、1－－） 0－＋、1－－　???クォークモデルそのもので禁止 0＋－　???πη、ωπに崩壊可能 1＋＋　???　共鳴状態ｂ１（1235）　→ωπに崩壊 τ－→ωπ－ντは、弱い相互作用によるセカンドクラスカレントの探索に適した崩壊過程である。 セカンドクラスカレントの寄与の導出方法 ωπ系の可能なスピンパリティ →ω粒子のスピン偏極の違い　＝　崩壊角度分布cosθの違い　として現れる。 JPG 角運動量L F（cosθ） FCC/SCC 1－＋ 1 1－cos2θ FCC 1＋＋ 0 1 SCC 1＋＋ 2 1＋3cos2θ SCC 0－＋ 1 cos2θ SCC θ　：　ω decay planeの垂線とω粒子の静止系における4　 　　　番目のπ－とがなす角 L　：　ωπ系の軌道角運動量 崩壊角分布を調べることにより、セカンドクラスカレントの寄与を導出する。 ω decay plane π－ π＋ π0 π－ θ の成分が観測されるはず！ ファーストクラスカレントJPG＝１－＋　　　　F（cosθ）＝ 1－cos2θ 　　　 　　 セカンドクラスカレントの寄与が存在 　　　 F（cosθ）＝１（一定） 　　 　F（cosθ）＝ 1＋3cos2θ FCC　：　ファーストクラスカレント SCC　：　セカンドクラスカレント ２．実験装置 非対称エネルギー 電子?陽電子衝突型加速器 　e－ ： 　8GeV 　　 　e＋ ：　3.5GeV 　重心系のエネルギー　：10.58GeV 　　　B中間子対を大量に生成し研究するの 　　　に理想的な設計（年間約108個生成　） 　　　　　　 　　B中間子とほぼ同数のτ粒子も生成 茨城県つくば市　 高エネルギー加速器研究機構　　　　　　　　　　 KEKB加速器 τ - ファクトリーとしても重要 SVD ：粒子崩壊点 の測定 CDC ：荷電粒子の飛跡や　 　　　 運動量の測定 ACC : K±とπ±の識別 TOF : 荷電粒子の飛行時 間を測定 ECL : 電子や光子の エネルギー測定 KLM : KL,μ粒子検出器 ECL Belle検出器 ＊KEKB加速器で生成された粒子を検出する大型検出器で、 複数の装置で構成されている。 ＊高いエネルギー及び運動量の分解能と優れた粒子識別能力を持つ。 ACC Belle測定器で収集された全反応の中から、 τ対生成を選びだすことが必要。　　 ＊他の荷