测定微小晶体结构的电子晶体学图像处理技术,.pdfVIP

特约专稿 ，. ） 测定微小晶体结构的电子晶体学图像处理技术! 李- 方- 华/ （中国科学院物理研究所- 北京凝聚态物理国家实验室- 北京- .00010 ） 摘- 要- - 介绍了2003 年国家自然科学奖二等奖获奖项目“微小晶体结构测定的电子晶体学研究” 研究目的是建 立一种借助高分辨电子显微像测定晶体结构的新方法 为此提出了高分辨电子显微学与衍射晶体学相结合的思想， 在实现此思想的过程中，研究了像衬的规律，得出实用的像衬公式和理论，阐明了不同种类原子像衬与晶体厚度的关 系，而且用理论指导实验，观察到晶体中锂原子的像衬 以此理论为依据，把衍射晶体学中的多种分析方法特包是直 接法引入到高分辨电子显微学中，建立了一套全新的电子晶体学图像处理技术，开发了相应的可视化专用软件包，并 应用于测定多个未知晶体结构 文中逐一介绍了研究工作全过程的关键问题和研究结果 关键词- - 电子晶体学，晶体结构，电子衍射，高分辨电子显微学，图像处理，像衬理论，直接法，最大熵 !#$%’( $)*%+’,+-./$ /0+,# -’$#**/(, %#$.(/12#* ’3 *%2$%2# 4#%#0/(+%/’( 3’ 0/(2%# $)*%+* 45 6*,789’*/ （!#$%$$’ () *+,#%-# ，.’%/ %0 12$%(23 425(62$(6, () 7(8’#’8 92$$’6 *+,#%-# ，7+%’#’ :-28’;, () -%’-’# ，.’%/ %0 .00010 ，7+%2 ） 56*%+$%7 7 :!; #=;+ “?(;+=, +@A*((=7*#!@ A’B@ =, !; A’+’; B;;C),*)=, =D C),’; +@A*(A ”!* %=, * E;+=,B F(*AA G*)=,*( G*’*( E+);,+; H%*B ), 2003 )A B;A+)I;B :!; *)C =D !; ;A;*+! %*A = A; ’# * ,;% C;!=B =D +@A*( A’+’; B;;C),*)=, I@ C;*,A =D !)7!8;A=(’)=, ;(;+=, C)+=A+=#; )C*7;A 6= !)A #’#=A; *, )B;* = +=CI),; !)7!8;A=(’)=, ;(;+=, C)+=A+=#@ *,B B)DD*+)=, +@A*((=7*#!@ %*A #=#=A;B := ;*()J; !)A )B;* !; #),+)#(;A =D )C*7; +=,*A %;; ),K;A)7*;B ，* #*+)+*( ;L’*)=, =D )C*7; ),;,A)@ %*A B;8 )K;B *,B !; +=;A#=,B),7 )C*7; +=,*A !;=@ B;K;(=#;B :!; K*)*)=, =D )C*7; +=,*A %)! +@A*( !)+M,;AA D= B)DD;;, M),BA =D *=CA %*A ;(’+)B*;B :!)A (;B = !; A’++;AAD’( =IA;K*)=, =D !; )C*7; +=,*A =D ()!)’C *=CA N*A;B =, !)A !;=@ K*)=’A *,*(@A)A C;!=BA B;K;(=#;B ), B)DD*+)=, +@A*((=7*#!@ %;; ),=B’+;B ),= !)7!8;A=(’)=, ;(;+=, C)+=A+=#@ ，*,B * +=C#(;;(@ ,;% ;+!,)L’; ,*C;B ;(;+=, +@A*((=7*#!)+ )C*7; #=8 +;AA),7 %*A ;A*I()A