一种低功耗测试图形的生成方法.pdfVIP

第 47卷 第 2期 西 安 交 通 大 学 学 报 Vo1．47 NO．2 2013年 2月 JOURNALOFXI’AN JIAOTONG UNIVERSITY Feb．2013 DOI：10．7652／Xjtuxb2O13O2O08 一 种低功耗测试图形的生成方法 张国和，冀丽丽 ，张林林 ，雷绍充 ，梁峰 (西安交通大学电子与信息工程学院，710049，西安) 摘要 ：为解决测试 图形生成 电路功耗 高、硬件开销大、故障检测难等 问题 ，提 出了一种用于内建 自 测试的低功耗测试 图形生成方法。该方法将种子 向量和 SIC计数器生成 向量进 行运算，产生 MSIC测试 向量 。通过设计一种可配置 SIC计数器和种子 生成 电路 ，证 明 了该方法 中任意的 2个 MSIC图形在任何情况下都是相异的。以国际基准测试 电路 ISCAS’89为对 象，在 nangate45nm 工艺上的仿真实验表明，基于该方法的测试生成 电路 的平均功耗 占