电子全息实验中参考波相位变化对物波相位测量的影响.pdfVIP

第 31卷 第 6期 电 子 显 微 学 报 Vo1．31．NO．6 2012年 12月 JournalofChineseElectronMicroscopySociety 2012—12 文章编号 ：1000—6281(2012)06—0498—05 电子全息实验中参考波相位变化 对物波相位测量的影响 杨 阳 ，姚 渡 ，王志宏 ，HabermeierHU ，禹 日成h (1．中国科学院物理研究所，北京100190；2．Max—Planck-Institutefor SolidStateResearch，Heisenbergstrasse1，D一70569，Stuttgart，Germany) 摘 要 ：本文根据 电子全息的成像原理 ，分析 了在测量 La Ca MnO (LCMO)平均 内势的实验 中，出现全 息相位 图中样品两部分的相位分别高于和低于真空区相位的现象，并进一步研究了参考波的相位变化对物波相位测量的 影响。 关键词 ：电子全息；参考波相位 ；透射 电镜 ；截面样品 中图分类号 ：0766 ．1；0436．1；TG115．215．3 文献标识码 ：A 电子全息技术通过对 电子束干涉条纹的记录， 息图中不仅有需要观察 的 LCMO样 品，而且另一侧 重构 出穿过样品的电子束 的振幅和相位 ，可 以准确 作为陪片的 STON也出现在全息图中(图 1b)。2) 地表述样品内部的电势分布情况 ¨。作者在电子 在经过重构并解卷绕之后的相位图中(图 1e)，位于 全息实验中，有时会遇到同一相位 图中样品不 同部 真空区域 (相位 已经被修正为0)两侧 的样品和陪片 分的相位存在正、负的异常情况 (以真空区域 的相 的相位符号相反 (图 1d)。按照电子全息的基本理 位为参考零点)，这对全息相位 的测量和分析结果 论 ，穿过样品的电子束受到样品内电势的作用 ，其相 有重要影响。因此很有必要利用电子全息的成像原 位将超前于参考 电子束，表现为正相位。因此无论 理 ，分析和研究导致这种现象的原 因，对正确进行电 是 LCMO还是 STON，穿过它们的电子束 的相位都 子全息实验和重构分析具有重要意义。 是正的(或符号相 同，参见下面的讨论)，不该 出现 1 利用 电子全息方法测量 La0．5Ca。． 负相位的情况。 MnO (LCMo)的平均 内势 2 对实验现象的讨论 将 La0 Ca MnO ／SrTiO3样 品与 掺 Nb的 通常，有几种原因可能导致样 品区的负相位 的 SrTiO (简称为 STON)陪片对粘 ，通过机械打磨和 现象。 Ar离子减薄方法得到透射 电镜截面样 品 (见 图 (1)在数字化重构过程 中，通过傅里 叶变换会 1a)。在 FEITechnaiF20型透射 电镜 (加速电压为 得到两个边带 ，它们是一对共轭 的复数 ，相位符 200kV)中的Lorentz模式下拍摄 电子全息 图，静 电 号相反。每个边带都可用来做相位重构 ，但得到的 双棱镜偏压为 120～200V。通过 DigitalMicrograph 相位符号是相反 的。因此用某个边带进行重构之 软件 中的holowork插件对全息 图进行重构 ，利用无 后 ，样 品区的相位是负值。这时，选择另外一个边带 样品情况下拍摄 的参考全息 图获取准确 的边带 就可以避免这个现象 。但无论选择哪个边带进行相 (Sideband) 位 置，并 通 过 解 卷 绕 处 理 位重构 ，都不应该在同一个相位 图中出现样 品区相 (unwrapping) 后得到相位分布图。 位有正有负的现象。 在实