纳米结构电学性质的静电力显微镜研究方法.pdfVIP

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2017-09-13 发布于重庆
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纳米结构电学性质的静电力显微镜研究方法.pdf

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国家纳米中心专题纳米结构电学性质的静电力显微镜研究方法* 张冬冬王锐蒋烨平戚桂村王琛裘晓辉昄暋暋暋暋暋暋暋暋暋暋暋暋 (国家纳米科学中心纳米表征研究室北京 ) 暋暋暋100190 摘要纳米尺度的材料具有许多不同于宏观体材料的奇特的物理和化学特性了解纳米结构的物性随材料尺寸暋暋暋 . , 及形状的变化关系对于设计和合成具有特定功能的纳米材料有重要的指导意义静电力显微镜技术为研究微纳米 . , 尺度下材料的电学特性提供了强有力的工具文章介绍了这种测量技术的基本原理并列举了几种在静电力显微镜 . , 、、基础上发展起来的纳米材料电学性质的表征方法包括探针特征电容的标定表面电荷密度测量薄膜材料中载流子 , 密度测定等这些实验方法扩展了静电力显微镜的应用领域为深入研究纳米材料的性质和纳米器件的功能结构提 . 供了丰富的技术手段. , , , , 关键词静电力显微镜针尖特征电容介电常数表面电荷密度载流子密度暋暋 Electricalcharacterizationofnanostructuredmaterials usin electricforcemicrosco g py 昄 ZHANGDon Don暋暋WANGRui暋暋JIANGYePin暋暋QIGuiCun暋暋WANGChen暋暋QIUXiaoHui g g g 灢灢灢灢 ( , , , ) NationalCenterorNanoscienceandTechnolo Laborator orNanocharacterization Beiin 100190 China f gy yf j g Abstract暋暋Nanostructuredmaterialsossessinterestin hsicalandchemicalroertieswhichmadiffer p gpy p p y sinificantlfromtheirmacroscoiccounterarts.Understandin thesizeandsha