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加快开发周期 提高运行速度 更快地获得结果 安捷伦 Medalist x6000 自动3D X 射线检测系统 为成功实施 X 射线检测消除了障碍 不折不扣的缺陷测试覆盖 为了提高检测速度而降低测试覆盖率。 免高成本的电气或功能测试之前，迅 它使用高性能 3D 检测功能检查每个焊 速、经济、高效地维修有缺陷的产品，提 今天，印刷电路板组装(PCBA)制 接点。 高了测试和检验系统的价值。 造商使用测试和检测设备的主要原因有 两个: 检测缺陷和工艺控制。客户需要 轻松实现编程 Medalist 维修工具 优质产品，因此制造商必须生产优质产 品，这要求使用最优良的工具和工艺。 Medalist x6000提供了一整套完