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PIV 用于微尺度滑移长度测量的问题 李战华、郑旭 中国科学院力学研究所LNM 实验室，100190，北京 摘要：本文简单介绍了滑移边界条件的基本概念、测量壁面滑移的实验方法，着重分析了焦平 面厚度等几个重要因素在 MicroPIV 壁面滑移测量中的影响。根据实验发现的近壁粒子浓度非线 性分布现象，解释了测量速度偏大的可能原因。 1 微尺度流动滑移问题 微尺度流动中，由于比表面积增大，表面作用成为影响流动的主要因素，边界 条件提法的研究受到关注。边界条件分为滑移与无滑移两种提法。在宏观尺度流体 力学中常常采用壁面无滑移边界条件( 图 1a)，即认为接触固体表面的液体的速度与 固体本身的速度一致。1823 年，Navier率先提出了线性滑移边界条件( 图 1c)[1][2]，即： ∂u γ | (1) u b b slip ∂z wall 这里，uslip 为滑移速度，b为滑移长度（液体速度降至零的位置到界面的距离）。当b 为常数时，u slip 与壁面剪切率γ 成线性比例关系。由于近壁面区的物理图象不清楚， Girard[3]在 19 世纪初提出过滞止层边界条件( 图 1b)，即认为液固界面处存在一固定 的液体薄层。20 世纪末，微制造技术推进了芯片实验室的发展，促进微尺度流动研 究。在宏观流动中，边界无滑移假设给出足够精确的近似。但在微/纳米流动中，流 动特征尺度L有可能接近滑移长度b时，滑移问题显得十分重要。为了研究滑移机理， 滑移长度的大小是重要的物理参数之一。 图 1 三种不同的边界条件：(a)无滑移BC 、(b)滞止层BC和 (c)Navier线性滑移BC [2] 2 壁面滑移的测量 [4] 常用测量滑移的实验手段主要包括：(1) 压力－流量(P-Q)关系测量 ，(2) 表面 力测量[surface force apparatus (SFA), atom force microscope (AFM)等] [5],[6]，(3) 速度 剖面测量[MicroPIV/PTV，全内反射隐失波(evevanescent wave, total internal reflection velocimetry, TIRV)等] [7],[8],[9]等。 (1) P-Q关系测量。这是一种间接测量uslip 的方法。物理依据是滑移使得流量增大。 以半径为r微圆管为例。实验测量管道流量为Qexp ，Poiseuille管流的无滑移理论流量 QP 与Qexp之差即为滑移导致流量增加，因此滑移速度为： 1 1 πΔp r4 u (Q =−Q ) (Q =− ) (2) slip 2 exp p 2 exp πr πr 8μL P-Q关系测量虽然是一种简便的方法，但其测量结果受到很多限制。因为理论上 4 Q~r ，管径r 的测量误差成为最终测量误差的主要来源。管道截面形状的规则程度， 管径延长度方向分布的均匀性和管径测量的精度都对结果有重大影响。 (2) 表面力测量。SFA和AFM测量表面力是根据相互接近的小球或平板之间的水 动力学阻力的无滑移条件Taylor解。Vinogradova(1995)[5] 给出滑移修正： 2 6πμr v ∗ Fh f (3) h 其中，两物体间距h ，曲率半径r ，v为两物体相对速度，f *是表征滑移的参数。当f *=1 时，即为无滑移时的Taylor解