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第28卷 第 4 期 金 属 学 报 Vol 28，No 4
1992年 4 月 ACTA M ETALLURGICA SIN ICA April 19 9 2
。一9lj『活性元素 Y和 Ce对 Fe-25Cr--40Ni
合口金正高同泪Iml氧羊L化1L只的-J影展l，，响．1luJ
／ ．
金立圭 扬国华 整盔 ．翁惠民 1Gfjj
(中国科学院上海原子棱研究所) (中国科学技术大学) 、f
沈嘉年
(中国科学院金属腐蚀与防护研究所腐蚀科学开放研究实验室)
摘 要 用离子背散射和慢正电子柬研完了话性元素 Y和ce对 Fe-25Cr一40Ni音金在高温初期
氧化动力学 氧化膜表屠成份和微观缺陷结构的影响 实验结果表明了微量活性元素{005％)在
高温氧化初期显著减少 了台金的氧化速率，有救地促进 了cr，0 的生长，抑制 了 Fe和 Ni氧化物
的形成．改善了氧化膜 的澈现结构 活性元素结台进人氧化膜并在外层膜中(约几十rim)富集．活性
元素 ce抗氧化机理不同于 Y，ce使台盒氧 化膜 的空位缺陷显著降低 ，主 要控制 了阳离子柑 晶格
空位 向外扩教．而含 Y 台垒 由氧化初期主要控制阳离子沿晶格扩散转变为主要控制阳高子沿晶界
向外扩散
关键词 离子牵背教射，慢正电子牵．壹望量韭 运丝重塞，￡ 量垒
离子背散射技术作为一种无损定量分析方法，可同时定量分析氧化膜的组分及深度分布，
因而在不同氧化膜分析 中获得广泛的应用 “ ．常规 He背散射有较好的质量和深度分辨本
领，而且对轻基体中的重杂质有很高的探测灵敏度；质子弹性背散射则对轻元素诸如 C，N和
0等有较高的探测灵敏度，且可分析深度达几个 ．因此，利用He背散射和质子背散射两
种方法，能系统地研究活性元素对Fe—cr-Ni合金高温氧化动力学及氧化膜层成分的作用．
正电子湮没谱对原子尺寸缺陷特别是空位型缺陷敏感，能量可调的慢正电子束适宜子探
测初期氧化几十至几百 IllD_的氧化膜缺陷结构及其剖面分布．用可变能量的慢正电子束逐层测
量氧化膜的Doppler谱，呵获得其微观结构的信息．
1 实 验 方 法
1．1 试样
试验用合金 由中国科学院上海冶金研究所提供 ”．材料加工成 10×10×0．5(mm)l~
试样．试样经金相砂纸研磨、抛光并经超声浴清洗、烘干并称重．样品的化学成分见表 1．
中国科学院金属腐蚀与防护研究所腐蚀科学开放研究室资助谦题
中国科技大学徐纪华 ，孙鸿芦，中国科学院上海原子棱研究所潘浩昌，郑万辉．朱德彰参加了本工作．
1991年6月 5日收到初稿；1991年 10月 28日收弼修改稿
本文通讯联系人：俞方华，助理研究员，~ (2Ol800)~ t学院上海原子棱研究所
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B 146 金 属 学 报 28卷
1．2 高温氧化实验
高温氧化试验在 中国科学院金属腐蚀与
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