确保EMI认证测试品质之最佳解决方案.pdfVIP

確保EMI認證測試品質之最佳解決方案 1 確保EMI 認證測試品質之最佳解決方案 GOOD WILL INSTRUMENT CO., LTD. 確保EMI認證測試品質之最佳解決方案 2 簡介 系統的外箱、天線或其他零組件上產生之雜散諧波訊號 電磁干擾(Electromagnetic Interference, EMI) 是一 所發出之電磁波，往往是干擾其他電子系統的電磁干擾 種普遍地充斥在我們的生活週遭的物理現象，一般常見 源。隨著高科技的應用層面進展神速與日益廣泛，電磁 的電磁干擾可分為人為與自然的類型。例如，汽車引擎 干擾的議題也迅速地在各種應用面向上快速散播，日益 的瞬間點火動作、各式各樣的電磁輻射源或電子設備、 高速的操作性能與高密度整合性的半導體電子元件無 又或者是在系統切換瞬間所產生的干擾信號、火花等。 形中使得許多訊號的干擾源既難偵測且難辨認。因此， 除此之外的自然電磁干擾源則以閃電與宇宙射線為經 有必要藉由建立校正性的量測方法來建立一套因果關 常性地影響我們日常生活的物理現象。而隨著電子產品 聯性的方法論，以達到確保其電磁相容性、進行電磁干 與系統的使用量日益普及，所涵蓋的層面則包括從航太 擾源定位，以及偵測無線射頻的干擾等目的。在固緯電 電子、醫療設備、電腦設備到行動通訊產品，無一不是 子的設計工藝展現之中，GSP-830擁有的傲視群倫性能 被密集地在各種應用領域上提高其系統的使用量，因此 項目不只是在背景雜訊可達-117dBm的條件下輕鬆地捕 導致伴隨在各種系統的電磁干擾效應不斷地大幅成 捉到極微弱性號的能力，同時在搭載一個20dB的前置增 長。為了提高對電磁干擾的免疫能力或是抑制自身產生 益放大器GAP-802下，更能使得GSP-830的背景雜訊性能 的電磁干擾量以降低對其他電子產品的的訊號干擾，於 降到-137dBm的準位，由此則可更加擴增其量測範圍。 是採用具有電磁干擾防護的設計措施就變得日益重要。 藉著搭載有電磁干擾分析之應用軟體與干擾源偵測配 件的GSP-830在電磁干擾源的診斷分析上是不可多得的 最佳解決方案。 圖一 電子設備的兩面性 基於這些應用上的考量，因此在業界早已訂出適當 的規範來定義電磁干擾的規格及其在量測環境上的標 圖二 由頻譜分析儀上所搭載之電磁干擾偵測套件可作為電 準，例如，在美國所使用的FCC規範、在歐洲所使用的 磁干擾放射之診斷系統的前測工具，特別是在EMI/EMC測試 VDE規範、在日本所使用的JIS規範等等。 認證的前測活動已被廣泛地採用 其次，就電磁波的傳波途徑而言，可將電磁干擾分 電磁相容性測試的需求已成為頻譜分析儀的市場發展 類為傳導性與輻射性的來源。其中傳導性輻射的形成係 潛力的關鍵預測指標 來自於緊貼著電力現或纜線上的輻射訊號傳輸到電子 電磁相容性(Electromagnetic compliance EMC) 對 元件上或系統上所致，而輻射性的電磁干擾則是由電子 目前的工業規格制定當局與製造商而言一直是個熱門 GOOD WILL INSTRUMENT CO., LTD. 確保EMI認證