频率特性测试仪系统以FPGA及DDS发生芯片AD9851为核心研究设计与制作.docVIP

频率特性测试仪 摘要：本系统以FPGA及DDS发生芯片AD9851为核心，通过对AD9851模块的控制产生系统所需的100—100KHZ的正弦扫频信号，通过AD637检测信号的有效值，并利用MSP430中自带的A/D芯片对有效值进行采集，从而获得波形幅频特性数据；通过将输入输出信号进行过零比较整形为方波后，进行相与，计数等操作得到相位差的占空比从而得到相频特性数据；使用双口RAM存储幅频和相频特性数据，最后通过LCD将所得的数据绘制成稳定的波形图。 关键字：DDS、幅频特性、相频特性 一、系统方案 1 1、方案论证与选择 1 1.1扫频信号发生 1 1.2幅频特性测量 1 1.3相频特性测量 1 1.4被测网络 2 2、系统总体方案设计 2 二、系统主要功能电路计算、分析及设计 3 1.双T被测网络 3 2.有效值检测 3 3.过零比较 4 4.其它 5 三、系统软件总图 5 四、系统测试 6 五、结论 6 六、参考文献 6  一、系统方案 1、方案论证与选择 1.1扫频信号发生 方案一：采用锁相环（PLL）频率合成信号源,PLL频率合成器的输出频率可以按需要步进地变化，锁定后，其输出频率可以达到与参考频率同量级的频率精度和稳定度。但其电路连接较为复杂，频率调整麻烦。 方案二：使用FPGA编程，运用DDS原理产生系统所需波形信号源。此法成本低廉，但其性能受晶振频率精度限制较大，外部对应处理电路较为复杂。 方案三：使用集成DDS芯片AD9851模块实现扫频波形发生，操作简单，频率精度与范围都可达到较高，波形稳定度高。 综上，我们采用方案三。 1.2幅频特性测量 在此系统中，幅频特性测量的重点在于波形幅度的测量上，而幅度测量的有以下几种方案： 方案一：二极管峰值检测法。通过对输入信号的峰值进行提取，将电路输出值一直保持，直到一个新的更大的峰值出现或电路复位。此方案实现简单，但是最大的缺陷是由于受检波管影响，对小幅度峰值检测误差较大。在具体实现中可以通过电压补偿，将信号幅度进行调整到适当范围等方法以减少一定误差，而且电路成本较低。 方案二：使用高速A/D采样，通过采样值获得峰值。此方案精度很高，但是由于需要较高的采样频率，高频干扰无法彻底消除，给峰值获取带来很大难度，制作调试相对复杂。 方案三：使用精度和速度都比较高的有效值检测器件（如AD637），通过有效值来计算幅度响应。此方案外围电路简单易于调试，精度也较高。 综上考虑，我们采用了方案三。 1.3相频特性测量 方案一：使用鉴相器，将相位差转换为电压值测量。由于受到鉴相器的性能限制，此方案精度不太高。 方案二：相位差可以通过占空比进行测试，但正弦波占空比不易测量，因此需先将正弦波通过过零比较整形为方波。再由如下图所示原理将通过被测网络前的方波信号f1和通过被测网络后的信号f2相与，从而得到两者的相位差A，再将A和高频脉冲B相与得到C，对C进行多周期计数来求得每个周期中高电平占空比，即可得到相差。 图1-1 综上考虑，方案二的测量精度高，我们采用了方案二。 1.4被测网络 方案一：采用无源阻容双T网络。通过理论设计与实际验证发现带宽无法满足系统设计所需。 方案二：采用有源阻容双T网络。在中心频率和带宽上都很好的满足了系统所需，为此，我们采用了此方案。 2、系统总体方案设计 根据以上的方案分析，我们的总体方案如下图所示： 图1-2 其中核心的FPGA主要通过对波形逻辑运算及计数来实现对相位的精准测量，单片机MSP430利用内部A/D转换芯片对所测得的有效值进行采集计算。计算所得的数据经校准后在键盘控制下通过LCD液晶显示器分别显示幅频特性、相频特性等。 二、系统主要功能电路计算、分析及设计 1.双T被测网络 我们采用了有源双T网络，在此网络中中心频率为fo=1/2RC，电路Q值为Q=1/4(1-K),频率特性方程为H(w)=( -)/[+j4w(1-K)-]，通过改变两个电阻的阻值可以实现对K和Q的值的改变。由于系统要求的中心频率为fo=5KHz，带宽为。将此要求带入上面公式即可得到个参数。 双T网络的电路图及对应幅频特性图、相频特性图如下所示： 图2-1 图2-2幅频特性 图2-3相频特性 2.有效值检测 该模块采用的是AD637。AD637是一块高精度单片TRMS／DC转换器，可以计算各种复杂波形的真有效值。采用了峰值系数补偿，在测量峰值系数高达10的信号时附加误差仅为1% 。频带宽度在2V输入时可达8MHz。由于AD637芯片可以对输入