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- 2017-09-05 发布于安徽
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摘要
摘要
随着MOS管制造工艺的进步以及SoC系统的广泛运用,包括:高速移动网
络通信技术、GPS全球卫星导航技术、无线传感技术等,对SoC系统的低功耗
诉求越来越高,因此,作为SoC系统中的功耗大户,对于存储芯片方面的功耗
需求也越来越苛刻。在各种SoC系统所用的存储芯片中,SRAM由于其独特的
优势,占据大约70%左右的比例。同时,根据相关预测,到2014年,SoC芯片
全部面积的94%将由片上存储器所占据,SRAM电路作为芯片内嵌的存储器,
是芯片必不可少的功能部件之一,其功耗的大小会直接影响到整个SoC芯片在
功耗方面的表现。
因此,能耗大户静态存储器(SRAM)的低功耗设计受到广泛关注。2005年
麻省理工学院教授Ananthachandrakasan领导的亚阈值电路小组和德州仪器协会
共同提出的一种新兴的低功耗技术:亚阈值电路设计技术。该技术通过将系统电
源电压降低至器件亚阈值区域(VddVth)以获得极低的系统总功耗。但是,
随着电源电压的极大降低,环境参数以及工艺偏差对亚阈值电路性能的影响亦呈
指数级变化,极易导致传统结构存储单元电路出现致命的功能性错误。同时,随
着电源电压的极大降低,由于S
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