被动式遥感FTIR测量时的仪器响应函数校正 The Calibration of Instrument Response Function during Passive FTIR Measurement.pdfVIP

第26卷，第1期 光谱学与光谱分析 200 6年1月 鼽trⅨ姒)py姐d帆tralAnalySis January，2006 被动式遥感FTIR测量时的仪器响应函数校正 张黎明1，张 琳1，李 燕¨，王晓斐1’2，刘丙萍1’3，任翌博1，王俊德1 1．南京理工大学现代光谱研究室，江苏南京210014 2．南京大学化工学院，江苏南京210014 3．曲阜师范大学化学科学学院，山东曲阜273165 摘要在应用红外发射光谱来获得某些红外源的绝对光谱能量数据，如辐射源光谱辐射通量密度、辐射 源光谱辐射强度、辐射源光谱辐射亮度及光谱辐射照度等时，需要得知不同条件下的仪器响应函数。文章对 被动式遥感FTIR测量时的仪器响应函数进行了校正，实验结果表明：在不同的实验条件下，仪器响应函数 的变化规律是不同的，它不仅和校正时所采用的绝对黑体温度有关，而且和校正中仪器接收到的信号大小 有直接关系。因此，在被动式测量时，要密切注意发射源温度以及发射源发射信号大小，以便获得最佳仪器 响应函数校正结果。 主题词 遥感FTIR；红外发射光谱；仪器响应函数；校正 中图分类号：0657．3文献标识码：A 文章编号：1000—0593(2006)01—0045—02 待校正仪器为BrukerEQuIN0x55遥感FTIR光谱仪。 引 言 所用绝对黑体为美国BaH磷标准绝对黑体。FTIR光谱仪的 傅里叶变换红外发射光谱测量属于被动式遥感FTIR技光谱分辨率为4锄～，每条光谱的扫描次数为16次，光谱 术，被动式遥感FTIR的测量和待测物与背景之间存在温度的频率范围为5000～500锄～。 差有关u’2j，因此，当我们对红外发射源进行被动式红外分 1．2实验步骤 析，以期获得红外发射源的各种参数，如辐射源光谱辐射通 将标准绝对黑体置于遥感FTIR光谱仪前，使黑体发射 量密度、辐射源光谱辐射强度、辐射源光谱辐射亮度及光谱 充满FTIR光谱仪的视场，调节FTIR光谱仪使之有适当的 辐射照度等旧1时，实验条件下的仪器响应函数就显得尤为重 接收信号，利用控温仪调节黑体温度，获得不同温度下黑体 要。 发射的单光束光谱。 以往相应的一些文献对红外仪器响应函数有着不同的理 1．3数据处理 解：如文献[4]认为，仪器响应函数只是频率的函数，而与校 依据下式计算仪器响应函数 正红外光谱仪时所采用的黑体温度无关；文献[5]的结论则 073 为：当温度低于1 K时，仪器响应函数与温度有关，且 随黑体温度的增加而增加；而文献[6]得出的结论为：标准 度丁下绝对黑体单光束光谱，S。(v)为背景单光束光谱， 黑体温度对仪器响应函数的影响随标准绝对黑体温度的上升 而降低。 (咖1)，T为温度(K)。 本文对BrukerEQUINOx55遥感FTIR光谱仪的仪器 响应函数进行了校正。实验结果表明：在不同的实验条件 2仪器响应函数校正结果 下，得到的仪器响应函数是不同的，它不但与校正时所用的 黑体温度有关，而且还和校正时仪器接收到的信号大小有直 实验表明，当仪器接收到的信号较小时，伴随黑体温度 接关系。 的上升，得到的仪器响应函数也随之上升，这与文献[5]的 结论一致，见图1；当调节FTIR光谱仪，使其接收到的信号 1实验部分 很大时，测得的仪器响应函数随温度的升高而有规律的降 低，见图2。 1．1实验装置 收稿日期：2004—10—09。修