蒙脱石中_SiO_2的定量分析.pdfVIP

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Chin J Pharm Anal2009, 29( 2) 265 * - SiO 2 ** 1 1 2 1 1 2 黄长高 , 李钢 , 郑海辉, 程永科 , 马超, 陈文波 ( 1. , 210097; 2. , 316021) : - SiO X -: X -(XRD) JADE 2 : C = - 001318+ 00348A ( r= 09789)6%, 10%, 15% 3 978%, 964%, 960% ( n= 10): X - - SiO 2 : X- ; - ;; : R917 : A : 0254- 1793( 2009) 02- 0265- 04 * The quantitativeanalysis of- SiO inmontmorillonite 2 1 *1* 2 H ANG Chang- gao, LIGang , ZHENG Hai- hui, 1 1 2 CHENG Yong- ke, MA Chao, CHEN W en- bo ( 1. Testing Analysis Center, NanjingNormal niversity, Nanjing210097, China; 2. ZhejiangHailishengGroup Co., Ltd., Zhoushan 316021, China) Abstract Objective: To establish a X- ray diffraction(XRD) method to determ ine the content of - SiO in 2 montmorillonite. Method:The quantitative analysis test technology ofX- ray diffraction and the JADE application sofwt arewere used. Results: The regression equation of the standard curvewasC = - 001318+ 00348A ( r = 09789). The average recovery of 6%, 10% , 15% were 978% , 964%, 960% (n = 10). Concl

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