红外成像法检测电气设备本体的温度升高.pdfVIP

2009年 12月 吉 林 电 力 Dec．2009 第37卷 第 6期 (总第205期) JilinElectricPower Vo1．37 No．6 (Ser．No．205) 红外成像法检测电气设备本体的温度升高 InfraredImagingMethodinElectricEquipmentGasTemperatureAscendingInspection ‘ 崔 明 ，付亚波 ，王 朔 (1．吉林省电力有限公司电力科学研究院，长春 130021；2．吉林省电力有限公司培训 中心，长春 130021) 摘 要：通过对不同类型电气设备进行红外检测，以设备的本体温度升高及试验数据进行对 比分析，设备红外热像 图线温度分析数据与试验数据完全对应，指出电力设备本体温度升高红外检测具有简便、快捷 ，不停 电、直观、准 确、灵敏度高、覆盖电力设备范围广等特点，可实现电力设备运行全过程 的技术监督 。 关键词 ：红外检测 ；电气设备 ；温度 ；介质损耗 因数 中图分类号 ：TN219 文献标志码 ：B 文章编号 ：1009—5306(2009)06—0038—03 额定电压下运行的电气设备会有小幅均匀的正 常温度升高。设备 内部缺陷也会以设备表面异常不 均匀的发热形式表现出来 。运行电气设备温度升高 反映了设备运行的工况 ，对应设备的制造质量和 内 部缺陷的形成和发展 ，对设备本体温度升高进行分 析，可以早期发现、诊断缺陷 ，适时退 出运行 ，防止事 故发生 。 1 电气设备制造质量、内部缺陷与运行温度 的对应关系 唔 ，％ 设备本体温度，℃ 1．1 互感器温度升高与试验数据的对应关系 图 1 66kVTV温度与介质损耗因数对比 1．1．1 66kV’TV 运行 中温度升高与试验数据的 关系 实例 1为随机抽取运行 10年 以上 TV红外热 像图本体温度分析数据与当年高压试验数据的比 对。目测红外热像图看不出差异，但设备红外热像图 线温度分析数据与高压试验数据完全对应 (见图 1)。其他TV同样符合这个规律。 1．1．2 66kVTA温度升高与试验数据的关系 实例 2为随机抽取运行 10年 以上 TA 红外热 像图本体温度分析数据与当年高压试验数据的比对 tgd，％ 设符本体温度，℃ 结果 (见图 2)。 1．1．3 内部存在缺陷的220kVTA温度升高与试 图 2 66kVTA温度与介质损耗因数对 比 验数据的关系 行红外检测发现某变电所 220kVTAV相温度异 a．V相TA油色谱分析 。2008年 7月 19日，例 常 ，立即采油样进行色谱分析，分析结果与 2008年 收稿 日期 ：2009—09—27 作者简介：崔 明(1965一)，男，助理工程师，从事高电压试验技术工作。 ·38 · 2009年 12月 吉 ．林 电 力 Dec．2009 第37卷 第6期 (总第205期) JilinElectricPower V01．37 No．6(Ser．No．205) 5月 23日色谱分析结果对比见表 1。由油色谱分析 1组 66kV氧化锌避雷器温度不平衡，避雷器红外 得 出 TA 内部局部放 电并且过热，温度为超过 热像图分析 、直流 0．75U 泄漏电流试验、运行阻 700C 。 性 电流数据对 比见 图3。避雷器温度没有达到标准 表 1 V相 TA油色谱分析结果对 比 I／L 判定缺陷控制值 ，与避雷器直流试验 、运行阻性电流