【25期】逻辑分析仪高速采样之光速测量.pdfVIP

逻辑分析仪─从入门到精通讲座(25) 逻辑分析仪高速采样之光速测量 1. 引言 光速测量给人感觉是需要很精密特殊的仪器才能够实现，其实不然，使用逻辑分析仪我 们也能测量出来的，当然我们这里讨论的不是如何测量光速，而是通过测量电信号在导线中 的传播延时来体现逻辑分析仪高速采样在高速信号测量中的应用价值。本文将以电信号的传 播延时及反射为例做应用分析。 2. 原理分析 2.1 传输线延迟 实验和电动力学的理论都证明了以空气为绝缘介质的均匀导体，电信号的传输速度可以 8 接近光速，即3 ×10 m/S ，实际应用中由于传输线绝缘介质不同，其传输速度相对光速也会 慢一些。根据传输线的等效电路模型可求得以下关系式： （公式1） 式中v——传输线中电信号的传播速度，单位为m/s ； Z——传输线的特性阻抗，单位为Ω； C——传输线的单位长度电容量，单位为pF/m ； 因此我们只需要知道传输线的特性阻抗和单位长度电容量（从传输线的数据手册中获取） 即可求得传输线中电信号的理论传输速度，从而进行测量验证。 2.2 传输线反射 驱动电路和传输线的特性极大地影响了信号传输的完整性。当驱动器发射一个信号进入 传输线时，如果传输线的特性阻抗和终端电阻正好相等，那么幅值为Vi 的信号将全部被端 接到地端。如果传输线的特性阻抗和终端电阻不相等，那么一部分信号被端接到地端，而信 号的剩余部分将沿着传输线向驱动器反射回去，反射回去的信号数量由反射系数决定，它被 定义为给定节点上的反射电压和入射电压的比值。反射系数计算如下： （公式2 ） 式中ρ为反射系数，Z 为传输线特性阻抗，Z 是不连续阻抗。 0 t 由公式2 可知，若 Z =Z ，则阻抗匹配 （ρ=0 ）；若Z ≠Z ，则阻抗不匹配，极端的情 0 t 0 t 况是负载开路或短路，将会产生全反射，开路时是正反射（ρ=+1 ），短路时是负反射，（ρ =-1）。被反射的信号将会返回驱动端和入射信号叠加产生V ρ+V =( ρ+1)V 的电压，并可能 i i i 产生另一次离开驱动端的反射。 1 / 5 3. 逻辑分析仪测量应用 在本次案例中，我们将采用广州致远电子有限公司的LAB7504 逻辑分析仪进行测量分 析，使用5G 高速采样模式。被测传输线使用AWG30 同轴电缆，特性阻抗为50 Ω，单位电 容量为 95pF/m。驱动信号由校准仪产生，信号为幅值 2.5V1 （50 Ω）、周期 1μs、上升时间 700ps 的脉冲信号，脉冲宽度分别为4ns/100ns 。测量过程中还使用20G 实时采样示波器配 合验证。 3.1 测量信号的传输延迟 裁剪长度为1 米的同轴电缆，电缆的一端接驱动端（校准仪，驱动信号脉冲宽度100ns）， 另一端接50 Ω终端电阻，逻辑分析仪的测量探头CH0、CH1 分别接在同轴电缆的两端，如 图 1 所示。 图 1 信号传输延迟测量方法 2 启动逻辑分析仪的5G 高速采样 ，测量结果如图 2 所示，从测量的结果可得知信号在 3 1 米同轴线中传输延时为4.8ns 。 图 2 同轴电缆 （1 米）的传输延时 算上200ps （5GHz ）的采样误差我们可以计算出信号在同轴线中的传输速度为： 根据公式1 我们可以计算出传输线的理论传输速度为： 对比测量值和理论值，我们可以发现