偏振光的研究(课题实验)03888.docVIP

偏振光的研究(课题实验) 光的干涉和衍射现象说明了光的波动性，光的偏振现象则进一步证实光波是横波。光的偏振在光学计量、光弹技术、薄膜技术等领域有着重要的应用。 课前思考 线偏振光的产生 能够产生线偏振光的方法有哪些？设计相应的实验方法，画出光路图，列出所需实验 器材。 马吕斯定律 何为马吕斯定律？如何验证马吕斯定律？设计光路及操作步骤，列出所需实验器材，思考实验中可能存在哪些干扰因素？如何减少及避免其影响？ 反射光与折射光的偏振特性 自然光入射两种介质界面时，反射光与折射光各有何偏振特性？何为布斯特布斯特光的偏振度 在部分偏振光的总强度中，完全偏振光所占的成分叫做偏振度。 偏振度的数值愈接近1，光线的偏振化程度就。 利用起偏器和1/4波片产生圆偏振光，其后放置布儒斯特转角装置及转接杆，在转接杆上放置检偏器及光探头，使光探头卡在杆上凹槽中，调节高度至激光射入探头光阑中。在光学转动平台上放置好棱镜，使光学表面穿过转动平台中心。转动平台，使棱镜表面垂直于入射光，记下此时转动平台的位置值。再次转动平台，利用转接杆用白屏追踪反射光斑，同时转动检偏器，仔细观察反射光的偏振态，测量光强变化情况，了解入射角与偏振态的关系，找到反射光为线偏振光时的位置，记下此时转动平台的位置值，此时的入射角为布儒斯特角。 物质的旋光特性 将旋光晶体置于已消光的起偏器与检偏器间，观察旋光现象，测出旋光率（对于晶 体而言，振动面旋转的角度ψ与晶片的厚度d成正比，即ψ=αd其中比例系数α称为该晶体的旋光率，它与入射光的波长有关）。 半导体激光器的偏振特性 通过偏振片观察半导体激光器的偏振特性，记录其功率最大值和最小值，以及所对应的角度，求出半导体激光的偏振度。 波片的性质及应用 a．b． 光具座、半导体激光器（波长650nm）、偏振片两只（偏振方向未定位）、1/2波片（光轴方向未定位）、1/4波片（光轴方向未定位）、三棱镜、石英旋光晶体（厚度d=3mm）、OPT-1A型激光功率计（含12档光阑探头）、光学转动平台及光学支架等 。 实验注意事项 注意光路的同轴等高调节。本实验中为了兼顾后续实验对光源的高度要求，开始调节时将光源高度尽可能调高。 注意光学器件的规范使用。使用光学件应轻拿轻放用手触光学表面使用完毕放回元件盒内。　 表头 ：3位半数字表头，用于显示光强的大小。 量程选择钮：分为200uW、2mW、20mW、200mW四个标定量程和可调档；测量时尽量采用合适的量程，如测得光强为1.732mW，则采用2mW量程。可调档显示的是光强相对值。 调零：调零时应遮断光源，旋动调零旋钮，使显示值为零。 12档光阑探头：该光探头在硅光电池前加上一多结构光阑（圆孔直径为0.5、1.0、2.0、3.0、4.0、6.0mm，缝宽0.2、0.3、0.4、0.8、1.2mm）。可用于光斑定位，光强分布、光斑结构测量等，使用者根据实际测量需要，采用相应的档位。 使用方法： 连接好激光探头和220v电源。打开后面板上的电源开关，数值表头亮。 将激光探头对准被测的激光束，使光束进入测量孔。 根据光功率的大小选择适当的量程。量程刻度上的值为该量程可测量的最大值，如200μW是指该档最大测量200μW的激光功率，单位为微瓦，当光功率大于该档最大指示值时，表头溢出显示“1”。 仪器量程分为200μW、2mW、20mW、200mW和可调档5个量程。当波段开关打到可调档时，连接的电位器可改变表头指示。该档主要用于测量相对值，即测量两束光的功率比值或光强分布等。 调零电位器用于调整仪器的零点。即在无光照时，应将仪器指示值调为“0”。 指示计后面板提供了一个半导体激光电源插座，可为相应的半导体激光器提供电源。 附录2：光学实验调节及仪器使用注意事项 1. 注意光路的同轴等高调节，保证整个光路的光轴沿导轨中轴且高度相同。 调节激光输出光束沿中轴并平行于导轨面射出，当小孔屏沿导轨移动时，观察激光斑射在孔屏上的位置变化情况，通过调节激光器后相应旋钮，使激光斑能始终保持与小孔重合。 调节所用光学元件的光学面中轴高度相等，观察光束是否射到元件光学面中心， 对光学元件及夹具进行多维度调节； 调节光学元件共轴，依据光学原理，通过观察各光学元件的反射或透射光点的位 置，通过分析、判断逐步加以调节。 2. 注意光学器件的规范使用。 使用光学件应轻拿轻放使用完毕放回元件盒内。光学元件，用手触光学表面。学不要自行处理元件1809年，发现双折射的两束光线的相对强度和晶体的位置有关，从而1811年，苏格兰物理学家布斯特David Brewster）在研究光的偏振现象时发现当反射光与折射光两方向成直角，反射光偏振，反射角的正切等于折射率布斯特定律。法国物理学家天文学家阿拉发现偏振光通过晶体时