光学线扫描检测系统用于伪粒子分析.pdfVIP

2009年第 1期 现 代 冶 金 光学线扫描检测系统用于伪粒子分析 (台湾)Jin—LuhMOU等 摘 要 ：采用光学线扫描技术开发 了用于伪粒子尺寸分析 的仪器 ，此系统主要 由四个模块组成 ，即 原料输入模块 ，图象获取模块 ，图像处理模块和控制模块 这个系统 的主要优 点是全分析 中没有 粒子的重复与遗漏 ，伪粒子剥离不破坏粒子结构 ，可以获取伪粒子尺寸分布范 围，主要尺寸，圆度 及椭 圆度和均一性等信息。这是一个功能强大的用于任何小粒子分析的仪器 。 关键词 ：伪粒子 ；铁矿烧结工艺 ；线扫描 1 前言 2 常用分析方法 铁矿烧结的生产率决定于烧结床的透气 没有标 准的用 于检测伪粒子 分布 的方 性 ，也就是说烧结床的透气性在很大程度上 法，日本制钢业使用的一种方法是把混合原 取决于烧结配料的伪粒子结构 ，但伪粒子结 料干燥到水份含量为 2．5％～3．5％时，伪粒 构随粘着细粉、成核 比率 、含水量和熟石灰加 子的结构不被破坏 ，以人工 在直 径为 20cm 人量以及矿物吸水性能等因素而变化，如何 的旋转筛 中以30。／s角倾斜转动，不 同筛 的 达到反映颗粒化效率指标 ，对 于烧结工艺变 筛下物干燥后称重以表示尺寸分布。控制水 得非常重要 。 份为3．0±0．5％非常困难 ，并且难以说明伪 伪粒子的定义是 ：一个核 由于其上的水 粒子水份含量为 2．5％和 3．5％时 的不 同。 膜而粘着 的一些细粉 (见 图 1)。确切地说 ， 另外 ，控制倾斜 3O。通常很困难 ，摇动强度也 颗粒间结合力很弱，由于干燥或振动 ，这些颗 因人而异 ，即使 同一人在不同时间时也不同， 粒可以随时脱落。因此，伪粒子测量面临一 与操作者相关的偏差很大，并很难降到最低。 些不确定因素，如从伪粒子上脱落粘着 的细 因此 ，这种方法应用不广泛 。由T．Matsumura 粉的误判 ，测量时伪粒 子结构难 以保持。下 和 Y．hosota报导 了另一种测量粒子的方法， 面将描述基于线扫描技术开发的伪粒子测量 这种方法首先将伪粒子干燥 ，通过 0．25～ 装置 。 0．5mm的筛去除非粒化粒子 ，剩余的伪粒子 伪粒子 铁矿原料核心 则留在筛子上 ，去除掉粘着细粉的粒子的比 率作为GI，定义如下 ，它反映伪粒子 的粒化 粘着细粉 性 ： 水模 一 杂质 GIo．25=( 25 一 ．25) 25×100(％) ． ． 石灰 (1) GIo5=( 5一Wo ． 5) ． 5×100(％) (2) 烧结带