非晶态合金晶化过程高精度电阻监测研究.pdf

( ) 中　国　科 　学 　 E 　辑 　　　　　　　 ( ) 第 30 卷 　第 3 期 SCIENCE IN CHINA Series E 　 2000 年 6 月 非晶态合金晶化过程的高精度电阻监测研究 王亚平 　卢 　柯 ( 中国科学院金属研究所 ,快速凝固非平衡合金国家重点实验室 ,沈阳 110015) 摘要 　　发展 了一种高精度 四线交流 电阻测试设备 , 原位监测 Ni80 P20 , FeZr2 和 Fe86B14非晶合金的晶化动力学过程. 结果表明 ,这种方法可以发现非晶合金的早期 晶化过程 ,测试出的晶化温度范围明显宽于 DSC 方法 ,能够更加灵敏地反映晶化过 程的信息. 这种方法还能够鉴别共晶型和多形型晶化中的形核和长大过程 ,而对于 初晶型晶化过程电阻测试亦反映出初晶相的形核信息. 关键词 　　电阻　非晶态合金 　形核 　长大 非晶态合金的晶化通常包括晶体形核和长大两个过程[1 ] ,为深过冷液体凝固的形核和长 大动力学研究提供了实验条件 ,具有显著的理论和实际意义[2 ] . 目前 ,对于非晶晶化的主要研 ( ) [3 ,4 ] 究方法为 : 1 用定量透射电子显微技术直接观察和统计晶化产生的晶粒数 目与尺寸 . 由 于初始晶胞和非晶基体的衬度对比不明显 ,这种方法不易准确界定晶化初始阶段 ,还存在着统 ( ) ( ) 计面积小和样品制备的困难 ; 2 采用固态相变理论分析量热 如 DSC ,DTA 方法 试验数 据[5 ,6 ] . 但因晶化过程的初始形核阶段热效应不明显 ,热分析技术难以及时探测到初始晶化 信息[7 ] . 电阻对材料的组织结构变化十分敏感 , 已被广泛用于研究非晶合金的相变过程[8～13 ] . 但 由于样品一般很薄 ,探针和样品良好稳定的电接触不易实现 ,因而难以探测到微弱的结构变化 信息 ,所得数据只能用于补充热分析结果. 为此 ,发展了一种高灵敏度的四线交流电阻测试设 备 ,对具有典型共晶型、多形型和初晶型晶化特征的Ni80 P20 ,FeZr2 和 Fe86B14非晶合金晶化时的 形核和长大的动力学过程进行原位监测和研究. 1 　电阻测试技术的改进 11 　传统四探针法存在的问题 测量材料电阻率的方法很多 ,但只有四探针法广泛用于原位研究材料相变. 四探针法是 测量一恒流源在样品不同位置引起的电位差得出材料的电阻率[14 ,15 ] . 为获得精确的测试结 果 ,必须保持四根探针和样品表面良好 、稳定的弹性接触. 它要求探针比较尖及保持适当的接 触压力 ,这就常常造成材料表面损伤并使测量值易受外界干扰 ,这种情况在测量薄条带或薄膜 ( ) 样品时更为明显. 另外 ,虽然测量电流很小 100 mA ,但探针与样品接触的面积也很小 , 由 　　收稿 收修改稿 ( ) 　　 中国科学院与国家自然科学基金 批准号 资助项 目 © 1994-2008