X射线衍射仪等3项设备技术参数.docVIP

技术参数 仪器名称：X射线衍射仪 （进口设备） 设备名称 技术参数 数量 台套 备注 X 射 线 衍 射 仪 测试原理： X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级，由不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构密切相关。 X射线光源： 最大输出功率：≥3kW；X射线光管：Cu靶，陶瓷X光管，2.2 kW，国际标准尺寸，能与其它厂家通用。电流电压稳定度：优于±0.005%；X射线防护：安全连锁机构、剂量符合国标;防护罩外任何一点的计量小于1μSv/h。（安装仪器时需要现场测定辐射剂量） 测角仪部分： 采用光学编码器技术与步进马达双重定位扫描方式：q/q测角仪可控制最小步长：0.0001°（验收指标），角度重现性：0.0001°（验收指标） 最高定位速度：≥1000°/min 采用智能虚拟测角仪全自动控制，硬件自动识别、自动纠错 验收精度：国际标准样品现场检测，全谱范围内所有峰的角度偏差不超过±0.01度。 探测器部分： 高速探测器1套，提供的探测器必须同时合适常规物相分析也适合薄膜反射率测量，不需要更换其他探测器；可消除金属荧光； 光路部分： 所有光学附件均采用模块化设计，采用无工具安装、拆卸方式；所有光学附件智能芯片识别、自动定位；提供聚焦光路和平行光路（非狭缝）两套系统；聚焦光路与平行光路切换及光路调整采用全自动计算机控制，无需做任何的硬件手动切换；采用全光路自动狭缝系统：包括自动防散射狭缝、自动发散狭缝、自动接受狭缝； 样品台： 同时满足常规粉末样品分析、薄膜分析、织构分析、污泥分析、小角分析而无需更换样品台。 满足粉末、薄膜、污泥等样品分析、小角分析使用的样品架（请注明根据样品类型配置的样品架的材质，种类，数量） 微量样品分析专用无背景（无反射）样品架 5个（注明材质） 仪器控制和数据采集系统： 计算机至少双核3.0GHz，4GB内存，硬盘250GB，方屏显示器, DVD-CDRW可擦写光驱；仪器控制和数据采集软件。 应用软件： 提供以下应用正版分析软件，可免费升级。物相检索软件---含原始数据直接检索功能；物相定量分析---可编程定量分析软件；无标样晶粒大小分析；粉末数据指标化、结构精修、结构解析以及无标样定量分析软件；薄膜反射率分析软件---包括薄膜厚度、密度、粗糙度分析；小角分析软件。 工作条件： 电力供应：单相220V（±10%），50Hz；工作温度：10℃-40℃；相对湿度：≤75％；仪器运行的持久性：能够满足长时间连续工作；仪器及生产商必须满足的相关国际安全标准；质量标准：ISO9001 EN29002认证；欧洲安全标准：CE 认证；射线防护标准：DIN 54113认证。 1 仪器名称：连续流动分析仪 （进口设备） 设备名称 技术参数 数量 台套 备注 连 续 流 动 分 析 仪 主要用途：各种水中总氮、总磷、磷酸盐、氨氮、硝酸盐、亚硝酸盐等参数的分析 自动进样器： 不小于100位的自动进样器，双针取样，自动清洗功能 分析通道： 4通道（各通道之间尽可能无相互依赖） 高精度蠕动泵： 泵管位数：不少于12位泵管； 泵速可调；有检漏器；可自动开启/关闭；（注明根据分析内容及分析通道配置的蠕动泵个数） 比色计： 双光束 ，波长范围：340-1100nm 软件控制脱气泡，LED灯源 检测器： 4通道可同时使用的检测器（需注明检测器名称，个数，单价） 分析模块： 可用于总磷、总氮、磷酸盐、氨氮、硝酸盐、亚硝酸盐测定的分析模块，并根据不通参数分析原理配置在线消解、在线加热、蒸馏、过滤等处理元件（需注明每一分析模块配置的处理元件的名称，个数） 分析软件： 数据处理系统，与仪器同品牌的分析软件 耗材： 3年消耗品（注明所有消耗品的名称、规格、单价及更换频率） 其他： 配置清单中应列出保证设备正常使用的标配件、必备件、附件及3年耗材；符合软件配置要求的品牌电脑，液晶方平显示器，带刻录机； 1 仪器名称：原子力显微镜 （进口设备） 设备名称 技术参数 数量 台套 备注 原 子 力 显 微 镜 测试原理：原子力显微镜（Atomic Force Microscopy，AFM）通过二极管激光器（Laser Diode）发出的激光束经过光学系统聚焦在微悬臂（Cantilever）背面，并从微悬臂背面反射到由光电二极管构成的光斑位置检测器（Detector）。在样品扫描时，由于样品表面的原子与微悬臂探针尖端的原子间的相互作用力，通过光电二极管检测光斑位置的变化，获得被测样品表面形貌的信息。在系统检测成像全过程中，探针和被测样品间的距离始终保持在纳米量级，反馈回路(Feedba