荧光光谱测量系统主要技术指标.docVIP

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荧光光谱测量系统主要技术指标.doc

荧光光谱测量系统主要技术要求 1.稳态荧光测试部分? (1)光学系统结构:L形状 (2)*工作原理:单光子计数 (3)*灵敏度/纯水喇曼信号:峰值计数1,000,000;保证信噪比6000:1 (4)激发光源:450W氙灯,光谱范围200nm-2600nm (5)UV-NIR波段稳态与瞬态光谱探测器Red-PMT 型号:R928P,侧窗,TE制冷(-20 oC) 光谱范围:200-870nm 响应时间:600ps 暗噪声:50 cps @ -20 oC (6)*完成激发谱、发射谱、3D谱、同步扫描谱功能 (7)稳态光谱可测范围:200nm-870nm (8)Filter一套:滤除二级衍射,波长分别是:345nm, 395nm, 455nm, 495nm, 550nm, 590nm, and 645nm。尺寸:50*50mm 2.瞬态荧光测试部分? (1)光学系统结构:L形状 (2)*工作原理:时间相关的单光子计数(TCSPC)及Multichannel Scaling (3)*测量寿命范围:小于100ps-10s (4)瞬态光谱范围:200nm-870nm (5)*纳秒闪光灯:脉冲宽度: 1ns;重复频率: 40kHz光谱范围: 110-850nm (依赖于冲入的气体) (6)*微秒闪光灯:脉冲宽度:1.5-3us;重复频率:大于100Hz;平均功率:大于60W; (7)*数据采集 最大计数率:9MHz (periodic), 3MHz (random) 计数通道数:大于4096个通道 最小时间分辨率:610fs 时间抖动:25ps (8)*完成时间分辨激发光谱、时间分辨发射光谱 (9)*可以同时测量得出多组分样品中各个组分的荧光寿命 (10)单色仪 类型:Czerny-Turner 数值孔径:F/4.2 *焦距长度:300mm *杂散光抑制比:: 105:1 *光谱分辨率:0.05nm 波长精度:(0.2nm 波长重复性:(0.1nm 色散:1.8nm/mm 狭缝从小于10um-10mm连续软件可调 3.前表面样品架 (1)配置前表面样品架,可以进行薄膜、粉末、固体和液体等各种形态样品测试; (2)两种入射光路可选:既有反射镜耦合光路,又有透镜耦合光路 4.水浴加热器:用于不同温度下的稳态和瞬态荧光测试 (1)温度范围:-10oC to +100oC (2)温度连续可调 (3)闭循环 5. Stopped Flow Cell:用于快速的动态测试 6.微量样品室 (1)光谱范围:170-2700nm (2)可以用螺丝旋转 (3)最小容量0.1ml (4)四边抛光 7.瞬态和稳态测试系统的灯源可以自动切换,无须拆装和校准 8. 系统包含标准计算机工作站、hp打印机及软件一套 9.软件主要功能 (1)激发谱、发射谱和同步扫描谱的测试 (2)偏振光谱测试 (3)激发、发射3D光谱 (4)光谱校正 (5)TRES:时间分辨发射光谱 (6)动态光谱测试 (7)软件控制狭缝、衰减器,信号强度、样品选择等 (8)荧光寿命的解卷积 (9)数据归一化、基线提取、平滑和微积分等 10.仪器主要功能 (1)200-870nm稳态光谱测量 (2)200-870nm荧光寿命/瞬态荧光光谱测量(100ps-10s) (3)200-870nm时间分辨发射光谱测量 (4)200-870nm 同步光谱测量 (5)200-870nm稳态化学发光光谱测量 (6)200-870nm激发谱测量 (7)200-870nm发射谱测量 (8)200-870nm不同温度下(-10C-100C)稳态光谱/荧光寿命/瞬态荧光光谱测量(100ps-10s)

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