荧光光谱测量系统技术指标.docVIP

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荧光光谱测量系统技术指标.doc

荧光光谱测量系统 技术指标 一、主要功能: 测试对象:薄膜、粉末(微量)、液体样品(包括高散射样品); 基本光谱功能:激发谱、发射谱、同步谱、3D EEM谱图、动态扫描,光度计; 基本瞬态功能:荧光寿命,磷光寿命、时间分辨发射谱、 荧光寿命动力学; 测量波长范围: CCD测试稳态200-1100nm; 稳态瞬态范围:200-1700nm 荧光寿命范围:≤100ps-50μs(荧光寿命);1μs-10s(磷光寿命) 快速EEM-3D荧光分析; 光致发光量子产率和色坐标分析;电致发光量子产率和色坐标分析 低温荧光测试77-500k 出厂激发谱校正文件,各检测器校正文件,积分球校正文件; 二、主要技术参数: 光学系统: 光学系统结构:L型或T型 同时具备正面反射式测试和T型测试的样品仓光学反射式配置 信噪比S/N=(I397-I450)/(I4501/2)≥12,000:1 (R928P,水拉曼峰测试,激发波长350nm,狭缝5nm,积分时间1s) 单色器结构:Czerny-Turner 型; 激发光源:450W无臭氧连续氙灯(稳态);闪烁氙灯(磷光);闪烁氙灯(磷光寿命);纳秒闪光灯和皮秒脉冲激光器(荧光寿命) 激发单色器: 激发杂散光抑制率:≥109:1 光栅1200gr/mm, 300nm闪耀波长 光谱分辨率:≤0.05nm 波长准确度:±0.2nm 波长重复性:≤±0.1nm 最小步进:≤0.05nm 发射成像光谱仪: 光栅:紫外可见1800gr/mm, 500nm闪耀波长; 近红外830gr/mm, 1200nm闪耀波长 杂散光抑制率:≥105:1; 最小步长:≤0.05nm 光谱分辨率:≤0.06nm 波长准确度:±0.2nm 荧光寿命部分: 工作方式:时间相关单光子计数(TCSPC) 测量测量寿命范围:≤100ps-50μs; 具备荧光寿命动力学测试功能; 激发光源:高性能纳秒闪光灯+皮秒脉冲激光器 最小时间分辨率≤1ps 通道数512~8192 计时抖动25ps 检测器通道数(START):3 检测器通道数(STOP):3 USB接口与电脑相连μs-10s; 时间分辨率小于90ns (MCS模式) 检测器: UV-Vis检测器(200-870nm) R928P光子检测器 半导体制冷模块 光子计数工作模式 暗噪声100cps(-20℃) NIR检测器 工作环境:电子冷却-60℃ 开机稳定时间<20分钟 光电响应效率2% 响应时间:T.T.S.400ps 波长范围:950-1700nm 阵列检测器: (200-1100nm) CCD 阵列检测器; 像素:1024×512 pix 像素尺寸:26μm×26μm 读出噪声:4 (e-rms) 工作环境:低温电子冷却; 微量粉末测试用量:小于50ul 系统控制:PC机,采用软件自动控制。 软件具备数据采集及批处理测试功能; 带有校正激发谱、发射谱及积分球文件; 耦合全部正版origin软件数据功能 荧光寿命动力学测试功能 软件系统 操作平台:Windows 7 in English Version 资料库:大量有机物、无机物的标准图库和文献,便于应用 数据采集功能:可进行激发光谱扫描、发射光谱扫描、3D光谱;基于时间的荧光衰减测量, 用户环境操作设置等 数据分析功能:具有所有硬件控制及数据采集功能,可生成多种格式数据文件 多种数据输入:分析数据块文件 大量的数据分析工具 色度分析功能 原装进口滤光片套件(七片滤光片):波长在300-780nm之间分布 样品仓 前表面样品支架或尾纤激光架托架 液氮低温附件:77~500K 积分球 150mm内径 可进行液体、固体和薄膜材料的量子产率测量 支持到近红外量子产率的测量(1700nm) 光纤附件(含液态光纤和光纤平台):可以耦合显微镜使用;300~650nm和420~2000nm波长范围光纤各一根 三、其他组件: 液体样品支架 1件 微量粉末夹具 2套 滤光片及支架 1套 前表面样品支架或尾纤激光器托架 1套 与主机配套系统控制及数据处理软件 1套 荧光比色皿3种4ml+500μl+ 200μl 6只 备用氙灯,40-300℃气氛高温荧光附件 1套 备用稳态氙灯、闪烁氙灯、激光器、单光栅发射单色器 1套 品牌电脑及激光打印机 1套

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