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荧光光谱测量系统技术指标.doc
荧光光谱测量系统 技术指标
一、主要功能:
测试对象:薄膜、粉末(微量)、液体样品(包括高散射样品);
基本光谱功能:激发谱、发射谱、同步谱、3D EEM谱图、动态扫描,光度计;
基本瞬态功能:荧光寿命,磷光寿命、时间分辨发射谱、
荧光寿命动力学;
测量波长范围:
CCD测试稳态200-1100nm;
稳态瞬态范围:200-1700nm
荧光寿命范围:≤100ps-50μs(荧光寿命);1μs-10s(磷光寿命)
快速EEM-3D荧光分析;
光致发光量子产率和色坐标分析;电致发光量子产率和色坐标分析
低温荧光测试77-500k
出厂激发谱校正文件,各检测器校正文件,积分球校正文件;
二、主要技术参数:
光学系统:
光学系统结构:L型或T型
同时具备正面反射式测试和T型测试的样品仓光学反射式配置
信噪比S/N=(I397-I450)/(I4501/2)≥12,000:1 (R928P,水拉曼峰测试,激发波长350nm,狭缝5nm,积分时间1s)
单色器结构:Czerny-Turner 型;
激发光源:450W无臭氧连续氙灯(稳态);闪烁氙灯(磷光);闪烁氙灯(磷光寿命);纳秒闪光灯和皮秒脉冲激光器(荧光寿命)
激发单色器:
激发杂散光抑制率:≥109:1
光栅1200gr/mm, 300nm闪耀波长
光谱分辨率:≤0.05nm
波长准确度:±0.2nm
波长重复性:≤±0.1nm
最小步进:≤0.05nm
发射成像光谱仪:
光栅:紫外可见1800gr/mm, 500nm闪耀波长; 近红外830gr/mm, 1200nm闪耀波长
杂散光抑制率:≥105:1;
最小步长:≤0.05nm
光谱分辨率:≤0.06nm
波长准确度:±0.2nm
荧光寿命部分:
工作方式:时间相关单光子计数(TCSPC)
测量测量寿命范围:≤100ps-50μs;
具备荧光寿命动力学测试功能;
激发光源:高性能纳秒闪光灯+皮秒脉冲激光器
最小时间分辨率≤1ps
通道数512~8192
计时抖动25ps
检测器通道数(START):3
检测器通道数(STOP):3
USB接口与电脑相连μs-10s;
时间分辨率小于90ns (MCS模式)
检测器:
UV-Vis检测器(200-870nm)
R928P光子检测器
半导体制冷模块
光子计数工作模式
暗噪声100cps(-20℃)
NIR检测器
工作环境:电子冷却-60℃
开机稳定时间<20分钟
光电响应效率2%
响应时间:T.T.S.400ps
波长范围:950-1700nm
阵列检测器: (200-1100nm)
CCD 阵列检测器;
像素:1024×512 pix
像素尺寸:26μm×26μm
读出噪声:4 (e-rms)
工作环境:低温电子冷却;
微量粉末测试用量:小于50ul
系统控制:PC机,采用软件自动控制。
软件具备数据采集及批处理测试功能;
带有校正激发谱、发射谱及积分球文件;
耦合全部正版origin软件数据功能
荧光寿命动力学测试功能
软件系统
操作平台:Windows 7 in English Version
资料库:大量有机物、无机物的标准图库和文献,便于应用
数据采集功能:可进行激发光谱扫描、发射光谱扫描、3D光谱;基于时间的荧光衰减测量, 用户环境操作设置等
数据分析功能:具有所有硬件控制及数据采集功能,可生成多种格式数据文件
多种数据输入:分析数据块文件
大量的数据分析工具
色度分析功能
原装进口滤光片套件(七片滤光片):波长在300-780nm之间分布
样品仓
前表面样品支架或尾纤激光架托架
液氮低温附件:77~500K
积分球
150mm内径
可进行液体、固体和薄膜材料的量子产率测量
支持到近红外量子产率的测量(1700nm)
光纤附件(含液态光纤和光纤平台):可以耦合显微镜使用;300~650nm和420~2000nm波长范围光纤各一根
三、其他组件:
液体样品支架 1件
微量粉末夹具 2套
滤光片及支架 1套
前表面样品支架或尾纤激光器托架 1套
与主机配套系统控制及数据处理软件 1套
荧光比色皿3种4ml+500μl+ 200μl 6只
备用氙灯,40-300℃气氛高温荧光附件 1套
备用稳态氙灯、闪烁氙灯、激光器、单光栅发射单色器 1套
品牌电脑及激光打印机 1套
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