电子封装抗振可靠性的研究综述.pdfVIP

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电子封装抗振可靠性研究综述 7马先龙k2,恩云匕2,宋芳芳2 (1.I..尔:I:业人学材料与能源学院÷l:‘尔J..州510090: 2.信息产业部电子第无研究所,厂‘尔J-.州510610) 摘要:振动对电子封装可靠性的影响越米越得到重视。本文论述了国内外LIl子封装抗振可靠性 的研究现状和进展。抓住振动对屯子封装的主要影响冈索,并分别从振动有限元模态分析习l振 动疲劳寿命模型角度,,对振动做了较全面的分析。进而在抗振可靠性方面提出了新的思考。 关键词;也子封装、振动可靠性、振动疲劳、模态分析 TheResearchofAnti-vibrationforElectronic Reliability FENG Yun-fei2,SONG Xian·long“2,EN Fang-fan92 ofTechnology,Cmangzhou510090,China; (1.GuangdongUniversity 5 2.CEPREI。Guangzhou10610,China) of Abstract:Vibrationofdectmnic isonetheresearch inthe reliability packaging emphasis and of on electronics describesthestatus anti-vibration industry.Thispaper progress reliability Electronic intheinternalandexternal.Wediscussthe factorsto and Packaging mainly key anal如is acloselookofthe intermsof theelectronic is.weget electronic optimize packaging.That packaging from element ofvibrationmodelandvibrationlife the finite anatys/s analysis fatigue we intheanti-vibration propose80皿曙I删thoughts reliability. 酗rwords:electronic reliability,vibrationfatigue,ModalAnalysis packaging,vibration l 引言 美国ATT贝尔实验室的HAnthonyChan认为…:电子产品的失效产生予不良的设计、元件 合组装为主要封装形式。由于封装组件与焊盘问只有焊点或引线的作用,振动时,封装组件与 电路板之间的应力完全要由焊点或引线来吸收,时间长了焊点就易失效。据统计,

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