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电子封装抗振可靠性研究综述
7马先龙k2,恩云匕2,宋芳芳2
(1.I..尔:I:业人学材料与能源学院÷l:‘尔J..州510090:
2.信息产业部电子第无研究所,厂‘尔J-.州510610)
摘要:振动对电子封装可靠性的影响越米越得到重视。本文论述了国内外LIl子封装抗振可靠性
的研究现状和进展。抓住振动对屯子封装的主要影响冈索,并分别从振动有限元模态分析习l振
动疲劳寿命模型角度,,对振动做了较全面的分析。进而在抗振可靠性方面提出了新的思考。
关键词;也子封装、振动可靠性、振动疲劳、模态分析
TheResearchofAnti-vibrationforElectronic
Reliability
FENG Yun-fei2,SONG
Xian·long“2,EN Fang-fan92
ofTechnology,Cmangzhou510090,China;
(1.GuangdongUniversity
5
2.CEPREI。Guangzhou10610,China)
of
Abstract:Vibrationofdectmnic isonetheresearch inthe
reliability packaging emphasis
and of on
electronics describesthestatus anti-vibration
industry.Thispaper progress reliability
Electronic intheinternalandexternal.Wediscussthe factorsto and
Packaging mainly key anal如is
acloselookofthe intermsof
theelectronic is.weget electronic
optimize packaging.That packaging
from element ofvibrationmodelandvibrationlife
the finite
anatys/s analysis fatigue
we intheanti-vibration
propose80皿曙I删thoughts reliability.
酗rwords:electronic reliability,vibrationfatigue,ModalAnalysis
packaging,vibration
l 引言
美国ATT贝尔实验室的HAnthonyChan认为…:电子产品的失效产生予不良的设计、元件
合组装为主要封装形式。由于封装组件与焊盘问只有焊点或引线的作用,振动时,封装组件与
电路板之间的应力完全要由焊点或引线来吸收,时间长了焊点就易失效。据统计,
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