实验一 集成逻辑门电路逻辑功能测试.pptVIP

实验一 集成逻辑门电路逻辑功能的测试 一、实验目的 1、熟悉数字逻辑实验箱的结构、基本功能和使用方 法。 2、掌握各种TTL门电路的逻辑功能。 二、实验仪器及设备 1、数字逻辑实验箱 1台 2、元器件： 74LS08（二输入端四与门） 1片 74LS32（二输入端四或门） 1片 74LS04（六反相器） 1片 74LS00（二输入端四与非门） 1片 74LS20（四输入端二与非门） 1片 74LS86（二输入端四异或门） 1片 CD4002（四输入端二或非门） 1片 导线若干 三、实验内容 1．测试74LS08（二输入端四与门）的逻辑功能 2．测试74LS32（二输入端四或门）的逻辑功能 3．测试74LS04（六反相器）的逻辑功能 4．测试74LS00（二输入端四与非门）的逻辑功能 5．测试74LS20（四输入端二与非门）的逻辑功能 6．测试74LS86（二输入端四异或门）的逻辑功能 7．测试CD4002（四输入端二或非门）的逻辑功能 1．测试74LS08的逻辑功能 将74LS08芯片正确插入面包板，并注意识别第1脚位置（集成块正面放置且缺口向左，则左下