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原子力显微镜在淀粉颗粒结构研究中的应用 庄海宁　张燕萍 (江南大学食品学院 , 江苏无锡 　2 14036) 　　摘 　要 : 本文首先介绍了原子力显微镜的基本原理 , 硬件结构和工作模式 , 其次将原子力显微镜在淀粉 颗粒结构研究中的应用做了一个简要的综述 。利用原子力显微镜观察淀粉颗粒表面和内部的精细结构 , 对比 较不同植物学来源的淀粉和在淀粉颗粒结构上考察基因突变对淀粉的影响 , 以及在淀粉糊化或贮藏的回生阶 段追踪淀粉颗粒结构的变化都具有十分重要的辅助意义 。 关键词 : 原子力显微镜 ; 应用 ; 淀粉 ; 颗粒结构 中图分类号 : TS231　文献标识码 : A 　文章编号 : 1006 - 2513 (2006) 06 - The app lica tion o f a tom ic fo rce m icro scop y (AFM ) in sta rch granu le structu re re se a rch ZHUA NG Ha in ing　ZHA NG Y an p ing (Co llege of Food Science and Techno logy, Sou thern Yangtze U n iversity, W uxi　2 14036) A b stract: The basic p rincip als of A tom ic Force M icro scopy (A FM ) was introduced firstly in th is p ap er, and then its app lication in starch granu le structu re research were reviewed briefly. It was an importan t comp lem en tary in strum ent of ob serving exqu isite su rface and inner structure of starch granu le s, wh ich cou ld be u sed in comp aring different botan ical starches and exam in ing the effect of m utation on starch from starch granu le structure a sp ect and follow ing the change s during the p asting or retrogradating of starch. Key words: atom ic force m icro scop y (A FM ) ; app lication; starch; granu le structu re 学检测法或隧道电流检测法 , 可测得微悬臂对应 1　原子力显微镜的基本介绍 于扫描各点的位置变化 , 从而可以获得样品表面 11　原子力显微镜的基本原理 形貌的信息[ 1 ] , 如图 1所示 。 原子力显微镜的基本原理是 : 将一个对微弱 力极敏感的微悬臂一端固定 , 另一端有一微小的 针尖 , 针尖与样品表面轻轻接触 , 由于针尖尖端 原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力 ,