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统计过程控制S P C 课程內容 一、SPC的起源和发展 二、SPC的目的 三、SPC的概念 四、计量型控制图 X-R,X-S,X-R,X-Rm控制图 Cp,Cpk,Ppk,指数说明 第一章 : 控制图的起源和发展 1、控制图的起源 控制图是1924年由美国品管大师W.A. Shewhart（休哈特）博士发明。因其用法简简单且效果显著，人人能用，到处可用，遂成为实施品质管制不可缺少的主要工具，当时称为(Statistical Quality Control)。 控制图在英国及日本的历史 英国在1932年，邀请.A. Shewhart博士到伦敦，主讲统计品质管制，而提高了英国人将统计方法应用到工业方面之气氛。 就控制图在工厂中实施来说，英国比美国为早。 日本在1950年由W.E. Deming（戴明）博士引到日本。 同年日本规格协会成立了品质管制委员会，制定了相应的JIS标准。 第二章:控制图的目的 3、SPC的焦点 为避免一些重要的特性(过程或产品特性)偏离目标值太远，对过程采取措施是最经济的； 对过程的输出采取措施是最不经济的；它仅限于对不符合的探测并纠正不符合规范的产品，而没有处理过程中的根本问题。只能作为不稳定或没有能力的过程的临时措施。 第三章:控制图的基础知识 数据的种类 波动（变差）——波动的概念、原理及波动的种类 普通原因/异常原因 统计控制状态/过度调整 基础的统计量——平均值X、中位数X、极差R 标准偏差?、S 1、数据的种类 计量型 特点：可以连续取值 也称连续型数据。 如：零件的尺寸、强度、重量、时间、温度等 计数型 特点：不可以连续取值，也称离散型数据。 如：废品的件数、缺陷数 2、波动（变差）的概念： （2）、普通原因、特殊原因 普通原因：指的始终作用于过程的许多变差的来源.随着时间的推移,一个过程中的普通原因会产生一个稳定的且可重复的分布,我们称之为：“处于统计控制状态”、“受统计控制”，或有时间称“受控”，普通原因表现为一个稳定系統的偶然原因。只有变差的普通原因存在且不改变时，过程的输出才可以预测。 如设备的正常震动，刀具的磨损，同一批材料的品质差异，熟练工人间的替换； （2）、普通原因、特殊原因 特殊原因：指的是造成不是始终作用于过程的变差的原因，它们通常是间歇发生的、不可预测的。除非所有的特殊原因都被查找出来并且采取了措施，否則它们将继续用不可预测的方式来影响过程的输出。如果系统內存在变差的特殊原因，随时间的推移，过程的输出将不稳定。 如设备故障，原材料不合格，没有资格的操作工…… （3）普通原因和特殊原因的区别 （2）普通原因、特殊原因 （4）、波动的种类: 正常波动：是由普通(偶然)原因造成的。如操作方法的微小变动，机床的微小振动，刀具的正常磨损，夹具的微小松动，材质上的微量差异等。正常波动引起工序质量微小变化，难以查明或难以消除。它不能被操作工人控制，只能由技术、管理人员控制在公差范围内。 异常波动：是由特殊(异常)原因造成的。如原材料不合格，设备出现故障，工夹具不良，操作者不熟练等。异常波动引起工序质量变化较大，容易发现，应该由操作人员发现并纠正。 （5）局部措施和系统措施 局部措施 通常用来消除变差的特殊原因； 通常由与过程直接相关的人员来实施； 通常可纠正大约15%的过程问题； 系统措施 通常用来消除变差的普通原因； 几乎需要采取管理上的纠正措施； 通常可纠正大约85%的过程问题； 4、“统计控制状态”与“过渡调整” 统计控制状态——当过程中只存在造成变差的普通原因，这个过程称为“处于统计控制状态”，简称“受控”。 过度调整——把过程中每一个偏离目标的值当作过程中发生了特殊原因来进行处理的做法。 5、基本统计量说明 1、平均值 X 设X1，X2，…….Xn是一个大小为n的样本，则X=（X1+X2+……+Xn)/n 2、中位数X 将数据按数值大小顺序排列后，位于中间位置的数据，称为中位数。 如：5，9，10，4，7， X=7； 如：5，9，10，4，7，8 X=（7+8）/2=7.5 3、极差R 样本数据中的最大值Xmax与最小值Xmin的差值。R= Xmax- Xmin 4、标准偏差S 、 ? （1）总体标准偏差 S （2）样本的标准偏差?（也称为过程总变差） 控制图示例: 7、控制图原理 工序处于稳定状态下，其计量值的分布大