8D报告范本(doc 6.docVIP

公司CAR编号: V0614 VGS FA/CAR编号: CT061120/ S6032319C 产品料号: UF4004-E3 客户名称: N/A 生产批号: 0512G CAR接收日期: 4/18/2006 失效模式: Short CAR报告日期: 4/21/2006 1.问题解决小组: 组成日期: 4/18/2006 ** 事业处部长 ** 品质部部长 ** 生产部部长 ** 技术处经理 ** VGS线产品工程师 2.问题描述： 2.1 失效详细情况: 测试项目: 生产批号 失效数量 失效比率 失效模式 功能测试 0512G 4 7% 短路 2.2 其他客户应用信息(如得到): 4 unit of UF4004-E3/73 were returned for failure analysis due to electrical in customer’s qualification. The failure rate was 7%. The part was used in the application of power supply. 3.限制措施: 3.1 库存/在制品检查: 1.对在制品进行抽样测试IR,设定为VR=410V;IR5uA,失效率为 0/24K PCS. 2.对库存进行抽样测试IR, 设定为VR=410V;IR5uA,失效率为 0/24K PCS. 3.2 工艺制程/OQC限制措施: 3.2.1查核2005年3月份PE1产品的可靠性监控情况，HTRB,PCT,TC和Forward Surge总共各做了7个批次，每种试验的抽样量为315支，全部合格。 3.2.2 查核2005年3月份UF4004产品的OQC的检验情况，无电性不良记录。 3.2.3将该产品列入OQC加严检验清单中，OQC对UF4004产品连续10个批次执行加严检验（3/28/2006）。 3.3 风险评估: N/A 4.根本原因定义: 4.1 退回样品的初始确认(外观/电性)(如适用): 参照VGSC失效分析报告T061120。 4.2 退回样品的失效分析: 4.2.1 失效分析结果总结: .典型IMC失效-表面有氧化层，导致芯片烧毁。 4.2.2 失效分析详细状况: 参照VGSC失效分析报告T061120。(参考VGST提供的UG2 IR不良模拟试验及FA报告) 4.3 失效原因: 4.3.1 失效机理: 由于焊接炉温异常,导致焊接材料产生”IMC”现象,在后期器件应用中发生失效. (参考VGST提供的UG2 IR不良模拟试验及FA报告) 4.3.2 可能的原因/要素: 焊接炉温异常,导致焊接材料产生”IMC”现象. 晶粒制程异常，导致玻璃钝化层披覆不良 4.4 根本原因: 4.4.1 最可能原因的分析: 焊接炉温异常,导致焊接材料产生”IMC”现象. 4.4.2 根本原因的结论: 同 经过模拟试验及排查, 最可能的原因是由于出炉材料在焊接炉出炉口未及时清理,导致焊接炉内部产生卡炉, 处于焊接炉高温区的材料产生”IMC”现象. 正常炉温曲线: 峰值温度365C. 卡炉后炉温异常曲线:峰值温度400C 卡炉的原因如下图: 由于员工操作疏忽,未及时清理出炉材料. 4.4.3 不良未发现/逃脱的原因: TMTT测试时，该支二极管尚未损坏，各项测试参数符合测试规范。 5.改善措施及验证: 5.1 针对根本原因: 项目 改善行动前 改善行动后 时间 负责人 1 出炉口未安装报警装置 出炉口安装报警装置,材料出炉后发出鸣叫警报声提醒操作员清理材料, 材料清理后,报警声停止 4/28/2006 ** ** 2 未及时清理出炉后材料 宣导并监督执行及时清理出炉后材料的操作纪律 4/21/2006 ** 安装报警装置如下图: 5.2 针对未发现/逃脱的原因: 项目 改善行动前 改善行动后 时间 负责人 5.3 提供安全有效的日期码: 5.4 改善措施有效性的验证: 6.永久的改善措施: 7. 预防再次发生的措施: 7.1 系统化的措施: 项目 系统化措施 时间 负责人 文件号 7.2 长期改善措施: DITTO 8.祝贺你的小组: **公司 中管网通用业频道 改善行动报告 (8D) Page 2 of 6中管网通用业频道 报警探头 材料卡住