MVRRCNJ0042波长色散型X射线荧光光谱仪检定规程.pdfVIP

MV_RR_CNJ_0042 波长色散型 X 射线荧光光谱仪检定规程 1. 波长色散型 X 射线荧光光谱仪检定规程的说明 编号 JJG(教委)016-1996 名称 (中文) 波长色散型 X 射线荧光光谱仪检定规程 ( 英 文 ) Verification regulation for wavelength dispersive X-Ray fluorescence spectrometer 归口单位 国家教育委员会 起草单位 国家教育委员会 主要起草人 毛惠新 批准日期 1997 年 1 月 22 日 实施日期 1997 年 4 月 1 日 替代规程号 无 适用范围 本检定规程适用于新安装的、使用中的和维修后的各种类型的波 长色散型X射线荧光光谱仪( 以下简称仪器) 的检定。 仪器用于元素成分分析。它能够在不破坏样品的组成和结构的情 况下进行测量，周期表上能测量的元素从 F到 U ，分析元素含量范围 9 92 广( μg/g～100％) 。 主要技术要求 1.外观要求 2.安装条件和检定环境 3.检测样品 4. 自备检测样 5.检定项目和检定方法 是否分级 无 检定周期(年) 2 附录数目 2 出版单位 科学技术文献出版社 检定用标准物质 相关技术文件 备注 2. 波长色散型 X 射线荧光光谱仪检定规程的摘要 2 范围 本检定规程适用于新安装的、使用中的和维修后的各种类型的波长色散型X射线荧光光 谱仪( 以下简称仪器) 的检定。 仪器用于元素成分分析。它能够在不破坏样品的组成和结构的情况下进行测量，周期表 上能测量的元素从 F到 U ，分析元素含量范围广( μg/g～100％) 。 9 92 2.1 原理 一种元素的特征X射线，是由该元素原子内层电子跃迁而产生的。当某元素的原子内层 轨道电子被逐出，而较外层轨道电子落入这一空位时，便产生该元素的特征X射线。 X射线荧光光谱法，即X射线发射光谱法，利用X射线管(激发源)发射的一次(初级)X射 线照射所分析的样品，激发其中每一个元素，使它们各自放射出二次(特征)X射线，又称荧 光X射线。经色散后不同波长的谱线由探测器在不同的衍射角度上接收，由计数器等部件读 出和记录。根据各待测元素的特征X射线波长进行定性分析，根据谱线的强度进行定量分析。 2.2 构成 2.2.1 顺序式谱仪结构 顺序式谱线仪又称单通道X射线荧光光谱仪。它的分光晶体为平面晶体。这类仪器一般 由四部分组成：X射线发生、X射线分光、检测和记录系统以及操作和控制系统。各系统均 由专用计算机控制和操作。 2.2.1.1 X射线发生系统是由X射线管及其控制部分、高压油箱、高压电缆和X射线管冷却 单元等组成。这些组成部分保证了激发源(X射线管)发射出稳定的、有一定强度的一次X射 线。 2.2.1.2 X射线分光系统是由X射线分光晶体、样品室、真空抽气系统和气路系统组成。X 射线光谱仪包括SC闪烁计数器、第一狭缝、分光晶体、晶体转换器、第二狭缝和FPC流气正 比计数器等。真空抽气系统包括真空泵、真空管道和真空探头。气路系统包括氩和甲烷气瓶、 减压阀、流量计和自动气体调压器等。 2.2.1.3 检测和记录系统是由放大器印刷电路板、PHA 的印刷电路板、探测器高压电源的 印刷电路板、接口印刷电路板、防护板、插件板和电源等组成。 2.2.1.4 操作控制系统包括专用于操作系统的微处理机、定标器/定时器、记录仪接口以及 光谱仪各个接口。经脉冲高度选择器分离出来的分析线脉冲高度