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第10章 特征测量和误差分析 10.1 直接测度和间接测度 10.1 直接测度和间接测度 10.1 直接测度和间接测度 10.2 准确性和精确性 10.2 准确性和精确性 10.2 准确性和精确性 10.2 准确性和精确性 10.3 4-连通和8-连通 10.3 4-连通和8-连通 10.3 4-连通和8-连通 10.3 4-连通和8-连通 10.4 影响测量误差的因素 10.4.1 误差来源 10.4.1 误差来源 10.4.2 光学镜头分辨率 10.4.2 光学镜头分辨率 10.4.2 光学镜头分辨率 10.4.2 光学镜头分辨率 10.4.3 采样密度 10.4.3 采样密度 10.4.3 采样密度 10.4.3 采样密度 10.4.3 采样密度 10.4.3 采样密度 10.4.3 采样密度 10.4.4 分割算法 10.4.4 分割算法 10.4.4 分割算法 10.4.5 特征量计算公式 10.4.5 特征量计算公式 10.4.5 特征量计算公式 10.4.5 特征量计算公式 10.4.5 特征量计算公式 10.4.6 综合影响 联 系 信 息 1. 基于链码的距离测量 链码长度的计算通式 Ne：偶数链码的个数 No：奇数链码的个数 Nc：角点（即链码方向 发生变化的点）个数 1. 基于链码的距离测量 链码长度的不同计算公式 1. 基于链码的距离测量 不同长度计算公式的比较 2. 基于局部模板的距离测量 一条长直线的长度可以逐步（局部地）计算 局部距离图 a：沿水平或垂直方向的局部距离 b：沿对角方向的局部距离 通路长度：D = ama + bmb 最优值：a = 0.95509，b = 1.36930 最大误差： 0.04491 M，M = max{|x1 – x2|, |y1 – y2|} 2. 基于局部模板的距离测量 3-D图象，计算局部距离的模板 1.6278 1.3291 0.9398 1.65 1.289 0.9016 1.59772 1.34224 0.8875 1.628 1.314 1.0 c b a 不同长度计算公式的误差随采样密度变化 这些公式的误差都有不随采样率改变的下限 *章毓晋 (TH-EE-IE) 第*页 第10讲 章毓晋 清华大学电子工程系 100084 北京 图象工程 10.1 直接测度和间接测度 10.2 准确性和精确性 10.3 4-连通和8-连通 10.4 影响测量误差的因素 10.5 误差分析 直接测度（direct measurements） 指直接对特征进行测量 (1) 场测度（field measurements） 场数目，场面积，目标数量 (2) 特定目标的测度（feature-specific measurements） 目标的面积，直径（包括最大，最小直径） 孔数量，内切位置，切线数量 推导出的测度（derived measurements） 借助其它已测出的测度而获得的新测度 可以有无穷个（数量可以没有限制 ）！ (4A/p)1/2（对圆就是直径） Area equivalent diameter (AD) 面积等价直径 轴平均长度 Average diameter (D) 平均直径 短轴长度 Breadth (B) 宽度 长轴长度 Longest dimension (L) 最长尺度 定义 英文（缩写） 特征测度 测度组合 测度的和： 测度乘实数： 测度的倒数： 通式： 含义/定义 准确性或准确度（accuracy） 实际测量值和作为（参考）真值的客观标准值的接近程度，无偏估计 精确性或精确度（precision） 根据重复性来定义，这里重复性指测量过程能重复进行并得到相同测量结果的能力 一致估计 （基于N个样本） 关系和示例 估计中间图里十字的位置 左：估计不一致（分布无规律/不精确）但无偏 右：估计相当一致但不准确，有偏 系统误差和统计误差 系统误差反映（参考）真值和测量数据的平均值之间的差别 统计误差描述重复测量所得到的测量数据（相对于重心值）的散射程度 统计误差大但系统误差小时，每个测量值都与真值差别大但它们的均值可能接近真值 统计误差小但系统误差大时就会得到高精确性低准确性的结果 系统误差小 系统误差大 统计误差小 统计误差大 1. 边界点和内部点 (a) 中的