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X射线荧光分析技术(XRF) 核分析技术与方法 利用外界辐射激发待分析样品中的原子， 使原子发出特征X射线（荧光），通过测定这 些特征X射线的能量和强度，可以确定样品中 微量元素的种类和含量，这就是X射线荧光分 析，也叫做源激发X荧光分析。 第三节 X射线荧光分析 1.1 X射线荧光方法的物理基础 1.2 X射线荧光方法和技术 1.3 X射线荧光的室内分析 1.1 X射线荧光方法的物理基础 一、X射线的本质与特点 二、X射线荧光的产生与莫塞莱定律 三、俄歇效应与荧光产额 1.1 X射线荧光方法的物理基础 2、本质和特点 X射线（次级X射线荧光）是在原子核周围，由电子或其它粒子轰击内层轨道电子，并使之脱离原子而形成电子空位，在邻近壳层电子补充空位时，其剩余能量释放后产生的高频电磁波，具有波动性；波长为：0.13～0.48? 二、X射线荧光的产生与莫塞莱定律 其一，高能粒子与原子发生碰撞并从中驱逐一个 内层电子，出现一个电子空位,此时原子处于受激态 。 其二，经过10-12～10-14s，外层电子向内跃迁，填 补内层电子空位，同时放出X射线。 第一个过程是吸收入射粒子能量，因而入射离子 的能量必须略高于内层电子的结合能； 第二个过程是放出能量，其特征X射线能量等于两 个能级的能量差。 K系谱线包括Ka1、K