基于NI Multisim 10与LabVIEW的单结晶体管伏安特性测试.pdfVIP

2010年 第 10期总 第 321 基于 NIMultisim 10与LabVIEW 的单结 晶体管伏安特性测试 宗爱芹 (上海海事大学 高等技术学院．上海 200136) 摘 要 ：在传统的单结晶体管伏安特性测试实验 中．通常需要直流 电源与晶体管 图示仪配合使用。晶体管图示仪没有 相应的器件插孔 ．测试很不方便 。另外 。因晶体管图示仪 的频率特性低 ，无法显示单结 晶体管伏安特性的负阻区，给理解其 特性曲线带来 了困难 。为 了降低实验成本 ．简化实验操作过程 ．采用虚拟仪器技术设计单结 晶体管伏安特性测试仪，可以完 整地 显示其特性 曲线 。且方便 于读取峰点与谷点 的电压与 电流值 关键词 ：单结晶体管 ；伏安特性 ；Muhisim 10；虚拟仪器；IabVIEW 中图分类号：TP274 文献标识码 ：A 文章编号：1004—373X(2O10)10—0119—03 Volt-