微电子制造工艺Ch-3.pptVIP

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  • 2017-08-25 发布于湖北
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Chapter 3 Single-Crystal Growth Wafer Preparation 硅单晶的生长与硅片加工 本章重点掌握: 1、什么是CZ-Si、FZ-Si、MCZ-Si、NTD-Si?基本工艺原理、材料特点和用途? 2、GaAs等化合物半导体材料生长的工艺特点? 3、什么是分凝效应?对材料工艺有什么影响? 4、NTD-Si的制备中,高纯Si在反应堆中经热中子辐照后,为什么还要进行退火处理? 5、晶片的加工的主要工艺流程是什么? 6、什么是杂质吸出工艺?什么是氧内吸出工艺?期工艺原理和工艺过程是什么? 7、材料参数测量? 3.1 Phase Diagram —Phase-change, Solid Solubility Segregation 相图—相变、固溶度与分凝 3.1.1Phase Diagram (9-12页) 基本性质 Lever rule(杠杆法则) 相律 P+F=C+2 P:系统中的相数 F:自由度 C:组元数 三相点 无限互溶、多相共存(F 2.1、F2.3) 3.1.2 Impurity Solid Solubility (12页、p.11-阅读) 最大固溶度 Frozen-in Precipitation Quenching 3.1.3 Phenomenon of

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